11、半导体电阻率测试仪

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	碳素电阻检测仪 GEST-125	碳素电阻检测仪本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。碳素电阻检测仪
	四探针粉末电阻测试仪 GEST-126	四探针粉末电阻测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针粉末电阻测试仪
	四探针电阻测定仪 GEST-126a	四探针电阻测定仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻测定仪
	四探针电阻测试仪 GEST-126	四探针电阻测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻测试仪
	探针表面电阻测试仪 GEST-126	探针表面电阻测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。探针表面电阻测试仪
	织物表面比电阻仪 GEST-125A	织物表面比电阻仪本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。织物表面比电阻仪
	织物表面电阻测试仪 GEST-125A	织物表面电阻测试仪本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。织物表面电阻测试仪
	织物表面比电阻测试仪 GEST-126	织物表面比电阻测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。织物表面比电阻测试仪
	织物点对点电阻测试仪 GEST-125A	织物点对点电阻测试仪本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。织物点对点电阻测试仪
	碳化硅非线性电阻测试仪 GEST-125A	碳化硅非线性电阻测试仪本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。碳化硅非线性电阻测试仪
	四探针电阻测试仪的校准 GEST-126	四探针电阻测试仪的校准该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻测试仪的校准
	四探针电阻仪测试仪 GEST-126	四探针电阻仪测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻仪测试仪
	四探针电阻测定仪 GEST-126	四探针电阻测定仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻测定仪
	乙炔炭黑电阻率测定仪 GEST-125A	乙炔��黑电阻率测定仪本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。乙炔炭黑电阻率测定仪
	半导体橡塑材料体积电阻测试仪 GEST-125	半导体橡塑材料体积电阻测试仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。半导体橡塑材料体积电阻测试仪
	半导电电阻测试仪 GEST-125A	半导电电阻测试仪本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。半导电电阻测试仪
	四探针面电阻测试仪 GEST-126	四探针面电阻测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针面电阻测试仪
	焦炭电阻率测试仪 GEST-126	焦炭电阻率测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。焦炭电阻率测试仪
	屏蔽电阻率测试仪 GEST-125A	屏蔽电阻率测试仪本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。屏蔽电阻率测试仪
	炭黑电阻率测定仪 GEST-126	炭黑电阻率测定仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。炭黑电阻率测定仪
	四探针半导体电阻率测试仪 GEST-126	四探针半导体电阻率测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针半导体电阻率测试仪
	四探针电阻率电导率测试仪 GEST-126	四探针电阻率电导率测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻率电导率测试仪
	台式四探针电阻率测试仪 GEST-126	台式四探针电阻率测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。台式四探针电阻率测试仪
	金属电阻率测试仪四探针 GEST-126	金属电阻率测试仪四探针该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。金属电阻率测试仪四探针
	金属四探针电阻率测定仪 GEST-126	金属四探针电阻率测定仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。金属四探针电阻率测定仪
	高温四探针电阻率测试仪 GEST-126	高温四探针电阻率测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。高温四探针电阻率测试仪
	四探针电阻率仪 GEST-126	四探针电阻率仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻率仪
	四探针膜片电阻率测试仪 GEST-126	四探针膜片电阻率测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针膜片电阻率测试仪
	四探针表面电阻率测试仪 GEST-126	四探针表面电阻率测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针表面电阻率测试仪
	四探针电阻率测定仪 GEST-126	四探针电阻率测定仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻率测定仪
	四探针电阻率方阻测试仪 GEST-126	四探针电阻率方阻测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻率方阻测试仪
	四探针电阻率测试仪 GEST-126	四探针电阻率测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻率测试仪
	探针式电阻率测试仪 GEST-126	探针式电阻率测试仪该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。探针式电阻率测试仪
	硅芯电阻率测试仪 GEST-125A	硅芯电阻率测试仪本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。硅芯电阻率测试仪
	线缆屏蔽层电阻率测试仪 GEST-125A	线缆屏蔽层电阻率测试仪本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。线缆屏蔽层电阻率测试仪
	电缆屏蔽电阻率测试仪 GEST-125A	电缆屏蔽电阻率测试仪本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。电缆屏蔽电阻率测试仪
	半导电屏蔽电阻率测试仪 GEST-125	半导电屏蔽电阻率测试仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。半导电屏蔽电阻率测试仪
	高温电阻率测斜组合仪 GEST-125	高温电阻率测斜组合仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。高温电阻率测斜组合仪
	高低温电阻率测试仪 GEST-125	高低温电阻率测试仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。高低温电阻率测试仪
	高温绝缘材料电阻率测试仪 GEST-125	高温绝缘材料电阻率测试仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。高温绝缘材料电阻率测试仪
	粉末微粒电阻率测试仪 GEST-125	粉末微粒电阻率测试仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。粉末微粒电阻率测试仪
	粉末涂料电阻率测试仪 GEST-125	粉末涂料电阻率测试仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。粉末涂料电阻率测试仪
	粉体电阻率仪 GEST-125	粉体电阻率仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。粉体电阻率仪
	粉体电阻率测试仪 GEST-125	粉体电阻率测试仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。粉体电阻率测试仪
	液体导电电阻测试仪 GEST-125	液体导电电阻测试仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。液体导电电阻测试仪
	防静电材料表面电阻测试仪 GEST-125	防静电材料表面电阻测试仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。防静电材料表面电阻测试仪
	石墨电极便携式电阻仪 GEST-125	石墨电极便携式电阻仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。石墨电极便携式电阻仪
	低电阻率测试仪 GEST-125	低电阻率测试仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。低电阻率测试仪
	半导电材料电阻率测试仪 GEST-125	半导电材料电阻率测试仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C��至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。半导电材料电阻率测试仪
	半导体橡塑材料电阻率测试仪 GEST-125	半导体橡塑材料电阻率测试仪本测试架有以下特点： 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。半导体橡塑材料电阻率测试仪

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