粉体电阻率测试仪

粉体电阻率测试仪

半导电橡塑材料体积电阻率试验仪

产品名称：半导电橡塑材料体积电阻率试验仪

产品型号：GEST-125

满足标准：

GB_T3048.3-2007电线电缆电性能试验方法_第03部分：半导电橡塑材料体积电阻率试验

GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法

GB/T 15662-1995 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法

GB/T2439-2001硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定

粉体电阻率测试仪

产品概述：

半导电橡塑电阻测试仪主要用于测 量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及各种导电橡塑产品电阻，也可使用四端子测试夹，对金属导体材料及产品的低、中值电阻进行测量。

     仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源，测量结果采用LED数字直接显示，分为3个窗口：电压显示窗口，材料厚度显示窗口（用户根据实测输入），电阻率显示窗口。

    仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国际和国家标准的要求。

    仪器适用于电缆厂、导电橡塑材料厂、计算机厂、电子表厂、高等院校、科学研究等部门，对于导电橡塑材料及产品的电阻性能测试、工艺检测，是必需的测试设备。

 仪器主要技术指标：                                                            

一、 测量范围：

测量半导电电阻率时： 电阻率10^-4--10⁵Ω-cm；分辩率10^-6Ω-cm

                      测量其他（电线电缆）电阻时： 电阻10^-4--2X10⁵Ω，分辨率1uΩ

二、 数字电压表：

1．  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3．  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。

三、 恒流源：

1．  电���输出：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA．

2.    电流误差：±(0.5%读数+2字)

四、 测量电极：

1、电极材质：测试电极-黄铜，支架-不锈钢

2、电极与试样接触宽度：5mm 

3、电极与试样接触压力：0.6N

五、试样要求：

1、试样宽度：（10±0.2）mm; 长度：（70-150）mm;推荐厚度：（3-4）mm,试样任何一点的厚度余平均值的差不得大于5%。

2、试样数量：3个

六、电源要求：

1、220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

粉体电阻率测试仪

试验程序
试样按本标准第7章、第8章、第9章、第 10 章进行准备。
测量试样及电极的尺寸、表面间隙的宽度g（两电极之间距离），**}lj士1%。然而，如有必要，对薄试样可在有关的规范中规定不同的**度。
为测定体积电阻率，应按照有关的规范测量每个试样的平均厚度，其厚度测量点应均匀地分布在由被保护电极所覆盖的整个面积上。
注：对于薄试样无论如何在加上电极前测量厚度。
一般说来，应与条件处理时相同的湿度（漫在液体中的条件处理除外）和温度下测试电阻。但有时也可在停止条件处理后的规定时间内进行测量。
四探针电阻率测试仪测试范围
ASTM D257-2014
绝缘材料直流电阻或电导的标准试验方法
Standard Test Methods for DC Resistance or Conductance of Insulating Materials
绝缘材料直流电阻或电导的标准试验方法1
本标准是以固定代号D257发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。
本标准经批准用于国防部所有机构。

粉体电阻率测试仪

半导电橡塑材料电阻测试架

本测试架有以下特点：

1、  技术性能完全符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于10¹²Ω。

2、   技术先进工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。

3、   操作简单，使用方便，寿命长。

参数资料
1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□
2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm 
3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA
4.电流精度：±0.1%读数
5.电阻精度：≤0.3%
6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式: 普通单电测量
8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W
9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）
10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台
11.测试探头：   探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针
四探针电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻，主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。广泛用于半导体厂家、太阳能行业，还能满足科研单位的精密研究。
电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多，四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便，**度高，对样品的形状无严格要求。

粉体电阻率测试仪

试样处置
电极之间或测量电极与大地之间的杂散电流对于测试仪器的读数没有明显的影响这一点很重要。 测试时加电极到试样上和安放试样时均要极为小心，以免可能产生对测试结果有不佳影响的杂散电流通道。
测量表面电阻时，不要清洗表面，除非另有协议或规定。 除了同二材料的另 一个试样的未被触模过 的表面可触及被测试样外，表面被测部分不应被任何东西触及。
10、条件处理
试样的处理条件取决于被试材料，这些条件应在材料规范中规定。
推荐按 GB/T 10580一2003 进行条件处理；由各种盐溶液所产生的相对温度在 IEC 60260 中给出。
可以采用机械蒸发系统。
体积电阻率和表面电阻率都对温度变化特别敏感。 这种变化是指数式的。 因此必须在规定的条件 下来测量试样的体积电阻和表面电阻。 由于水分被吸收到电介质内是相对缓慢的过程，因此测定温度 对体积电阻率的影响需要延长处理期。 吸收水分后通常会降低体积电阻。 有些试样可能需要处理数月 才能达到平衡。
11、试验程序
试样按本标准第7章、第8章、第9章、第 10 章进行准备。
测量试样及电极的尺寸、表面间隙的宽度g（两电极之间距离），**}lj士1%。然而，如有必要，对薄试样可在有关的规范中规定不同的**度。
为测定体积电阻率，应按照有关的规范测量每个试样的平均厚度，其厚度测量点应均匀地分布在由被保护电极所覆盖的整个面积上。
注：对于薄试样无论如何在加上电极前测量厚度。
一般说来，应与条件处理时相同的湿度（漫在液体中的条件处理除外）和温度下测试电阻。但有时也可在停止条件处理后的规定时间内进行测量。
四探针电阻率测试仪测试范围

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