11、半導體電阻率測試儀

主營產品：落錘沖擊試驗機高壓漏電起痕試驗儀壓力分布測量系統比表面積及孔徑測試儀石墨電阻率測定儀半導體橡塑材料電阻率測定儀耐電弧試驗機電壓擊穿試驗儀電子拉力試驗機介電擊穿強度測定儀體積電阻率表面電阻率測定儀落球回彈試驗儀塑料滑動摩擦磨損試驗機海綿泡沫壓陷硬度測定儀海綿往復沖擊疲勞試驗機

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產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	碳素電阻檢測儀 GEST-125	碳素電阻檢測儀本儀器用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過專用的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。碳素電阻檢測儀
	四探針粉末電阻測試儀 GEST-126	四探針粉末電阻測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針粉末電阻測試儀
	四探針電阻測定儀 GEST-126a	四探針電阻測定儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針電阻測定儀
	四探針電阻測試儀 GEST-126	四探針電阻測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針電阻測試儀
	探針表面電阻測試儀 GEST-126	探針表面電阻測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。探針表面電阻測試儀
	織物表面比電阻儀 GEST-125A	織物表面比電阻儀本儀器用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過專用的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。織物表面比電阻儀
	織物表面電阻測試儀 GEST-125A	織物表面電阻測試儀本儀器用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過專用的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。織物表面電阻測試儀
	織物表面比電阻測試儀 GEST-126	織物表面比電阻測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。織物表面比電阻測試儀
	織物點對點電阻測試儀 GEST-125A	織物點對點電阻測試儀本儀器用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過專用的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。織物點對點電阻測試儀
	碳化硅非線性電阻測試儀 GEST-125A	碳化硅非線性電阻測試儀本儀器用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過專用的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。碳化硅非線性電阻測試儀
	四探針電阻測試儀的校準 GEST-126	四探針電阻測試儀的校準該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針電阻測試儀的校準
	四探針電阻儀測試儀 GEST-126	四探針電阻儀測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針電阻儀測試儀
	四探針電阻測定儀 GEST-126	四探針電阻測定儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針電阻測定儀
	乙炔炭黑電阻率測定儀 GEST-125A	乙炔炭黑電阻率測定儀本儀器用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過專用的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。乙炔炭黑電阻率測定儀
	半導體橡塑材料體積電阻測試儀 GEST-125	半導體橡塑材料體積電阻測試儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。半導體橡塑材料體積電阻測試儀
	半導電電阻測試儀 GEST-125A	半導電電阻測試儀本儀器用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過專用的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。半導電電阻測試儀
	四探針面電阻測試儀 GEST-126	四探針面電阻測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針面電阻測試儀
	焦炭電阻率測試儀 GEST-126	焦炭電阻率測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。焦炭電阻率測試儀
	屏蔽電阻率測試儀 GEST-125A	屏蔽電阻率測試儀本儀器用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過專用的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。屏蔽電阻率測試儀
	炭黑電阻率測定儀 GEST-126	炭黑電阻率測定儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。炭黑電阻率測定儀
	四探針半導體電阻率測試儀 GEST-126	四探針半導體電阻率測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針半導體電阻率測試儀
	四探針電阻率電導率測試儀 GEST-126	四探針電阻率電導率測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針電阻率電導率測試儀
	臺式四探針電阻率測試儀 GEST-126	臺式四探針電阻率測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。臺式四探針電阻率測試儀
	金屬電阻率測試儀四探針 GEST-126	金屬電阻率測試儀四探針該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。金屬電阻率測試儀四探針
	金屬四探針電阻率測定儀 GEST-126	金屬四探針電阻率測定儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。金屬四探針電阻率測定儀
	高溫四探針電阻率測試儀 GEST-126	高溫四探針電阻率測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。高溫四探針電阻率測試儀
	四探針電阻率儀 GEST-126	四探針電阻率儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針電阻率儀
	四探針膜片電阻率測試儀 GEST-126	四探針膜片電阻率測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針膜片電阻率測試儀
	四探針表面電阻率測試儀 GEST-126	四探針表面電阻率測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針表面電阻率測試儀
	四探針電阻率測定儀 GEST-126	四探針電阻率測定儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針電阻率測定儀
	四探針電阻率方阻測試儀 GEST-126	四探針電阻率方阻測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針電阻率方阻測試儀
	四探針電阻率測試儀 GEST-126	四探針電阻率測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。四探針電阻率測試儀
	探針式電阻率測試儀 GEST-126	探針式電阻率測試儀該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。探針式電阻率測試儀
	硅芯電阻率測試儀 GEST-125A	硅芯電阻率測試儀本儀器用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過專用的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。硅芯電阻率測試儀
	線纜屏蔽層電阻率測試儀 GEST-125A	線纜屏蔽層電阻率測試儀本儀器用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過專用的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。線纜屏蔽層電阻率測試儀
	電纜屏蔽電阻率測試儀 GEST-125A	電纜屏蔽電阻率測試儀本儀器用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過專用的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。電纜屏蔽電阻率測試儀
	半導電屏蔽電阻率測試儀 GEST-125	半導電屏蔽電阻率測試儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。半導電屏蔽電阻率測試儀
	高溫電阻率測斜組合儀 GEST-125	高溫電阻率測斜組合儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。高溫電阻率測斜組合儀
	高低溫電阻率測試儀 GEST-125	高低溫電阻率測試儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。高低溫電阻率測試儀
	高溫絕緣材料電阻率測試儀 GEST-125	高溫絕緣材料電阻率測試儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率��化，提供了有力保障。高溫絕緣材料電阻率測試儀
	粉末微粒電阻率測試儀 GEST-125	粉末微粒電阻率測試儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。粉末微粒電阻率測試儀
	粉末涂料電阻率測試儀 GEST-125	粉末涂料電阻率測試儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。粉末涂料電阻率測試儀
	粉體電阻率儀 GEST-125	粉體電阻率儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。粉體電阻率儀
	粉體電阻率測試儀 GEST-125	粉體電阻率測試儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。粉體電阻率測試儀
	液體導電電阻測試儀 GEST-125	液體導電電阻測試儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。液體導電電阻測試儀
	防靜電材料表面電阻測試儀 GEST-125	防靜電材料表面電阻測試儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。防靜電材料表面電阻測試儀
	石墨電極便攜式電阻儀 GEST-125	石墨電極便攜式電阻儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。石墨電極便攜式電阻儀
	低電阻率測試儀 GEST-125	低電阻率測試儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。低電阻率測試儀
	半導電材料電阻率測試儀 GEST-125	半導電材料電阻率測試儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。半導電材料電阻率測試儀
	半導體橡塑材料電阻率測試儀 GEST-125	半導體橡塑材料電阻率測試儀本測試架有以下特點： 1、技術性能完全符合國標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電流電極、電壓電極，及加壓系統，樣品盒絕緣強度大于1012Ω。 2、技術先進工作可靠，工作溫度范圍大采用高強度高絕緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期工作，為研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。半導體橡塑材料電阻率測試儀

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