主营产品:
落锤冲击试验机
高压漏电起痕试验仪
压力分布测量系统
比表面积及孔径测试仪
石墨电阻率测定仪
半导体橡塑材料电阻率测定仪
耐电弧试验机
电压击穿试验仪
电子拉力试验机
介电击穿强度测定仪
体积电阻率表面电阻率测定仪
落球回弹试验仪
塑料滑动摩擦磨损试验机
海绵泡沫压陷硬度测定仪
海绵往复冲击疲劳试验机
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电性能检测设备
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1300KV电弱点测试仪
NLD-C电缆耐漏电起痕试验仪
绝缘子漏电起痕试验仪NLD-AII
大电流起弧试验仪-NDH-AI
8、NLD-BI耐电痕化指数测定仪
4、高频介电常数测试仪
1000KV电弱点测试仪
电弱点检测仪-DRD-10KV
高压漏电起痕试验仪-NLD-A
大电流温升试验机-DW-100
3、工频介电常数测试仪
10、导体电阻率测试仪
GCDRD-650KV电弱点测试仪
耐电弧试验仪-NDH-B
电线耐干湿电弧试验机-YHT-RC100
订做设备
2、体积表面电阻测定仪
11、半导体电阻率测试仪
电压击穿试验仪
产品列表
产品图片
产品名称/型号
产品简单介绍
GEST电缆电阻率测试仪
GEST-123
GEST电缆电阻率测试仪由隔离稳压源、恒流源、模拟信号放大、数据处理部分、TFT LCD触摸显示、电容触控按键板等几个部分组成。显示、设置、调节均在前面板; 输入输出口、电源开关及电源输入插口均装置在后面板。 GEST电缆电阻率测试仪(1).LCD显示部分 显示内容丰富,均有指示,直接触摸操作,非常容易和简单化。 (2
炭素材料电阻率测定仪
GEST-!122
GEST-122炭素材料电阻率测定仪;铝用炭素材料检测方法 第2部分 阴极炭块和预焙阳极室温电阻率的测定
碳素电阻检测仪
GEST-125
碳素电阻检测仪 本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 碳素电阻检测仪
四探针粉末电阻测试仪
GEST-126
四探针粉末电阻测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针粉末电阻测试仪
四探针电阻测定仪
GEST-126a
四探针电阻测定仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻测定仪
四探针电阻测试仪
GEST-126
四探针电阻测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻测试仪
探针表面电阻测试仪
GEST-126
探针表面电阻测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。探针表面电阻测试仪
织物表面比电阻仪
GEST-125A
织物表面比电阻仪 本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 织物表面比电阻仪
织物表面电阻测试仪
GEST-125A
织物表面电阻测试仪 本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 织物表面电阻测试仪
织物表面比电阻测试仪
GEST-126
织物表面比电阻测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。织物表面比电阻测试仪
织物点对点电阻测试仪
GEST-125A
织物点对点电阻测试仪 本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 织物点对点电阻测试仪
碳化硅非线性电阻测试仪
GEST-125A
碳化硅非线性电阻测试仪 本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 碳化硅非线性电阻测试仪
四探针电阻测试仪的校准
GEST-126
四探针电阻测试仪的校准 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻测试仪的校准
四探针电阻仪测试仪
GEST-126
四探针电阻仪测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻仪测试仪
四探针电阻测定仪
GEST-126
四探针电阻测定仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻测定仪
乙炔炭黑电阻率测定仪
GEST-125A
乙炔炭黑电阻率测定仪 本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 乙炔炭黑电阻率测定仪
半导体橡塑材料体积电阻测试仪
GEST-125
半导体橡塑材料体积电阻测试仪 本测试架有以下特点: 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 半导体橡塑材料体积电阻测试仪
半导电电阻测试仪
GEST-125A
半导电电阻测试仪 本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 半导电电阻测试仪
四探针面电阻测试仪
GEST-126
四探针面电阻测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针面电阻测试仪
焦炭电阻率测试仪
GEST-126
焦炭电阻率测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。焦炭电阻率测试仪
屏蔽电阻率测试仪
GEST-125A
屏蔽电阻率测试仪 本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 屏蔽电阻率测试仪
炭黑电阻率测定仪
GEST-126
炭黑电阻率测定仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。炭黑电阻率测定仪
四探针半导体电阻率测试仪
GEST-126
四探针半导体电阻率测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针半导体电阻率测试仪
四探针电阻率电导率测试仪
GEST-126
四探针电阻率电导率测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻率电导率测试仪
台式四探针电阻率测试仪
GEST-126
台式四探针电阻率测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。台式四探针电阻率测试仪
金属电阻率测试仪四探针
GEST-126
金属电阻率测试仪四探针 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。金属电阻率测试仪四探针
金属四探针电阻率测定仪
GEST-126
金属四探针电阻率测定仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。金属四探针电阻率测定仪
高温四探针电阻率测试仪
GEST-126
高温四探针电阻率测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。高温四探针电阻率测试仪
四探针电阻率仪
GEST-126
四探针电阻率仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻率仪
四探针膜片电阻率测试仪
GEST-126
四探针膜片电阻率测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针膜片电阻率测试仪
四探针表面电阻率测试仪
GEST-126
四探针表面电阻率测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针表面电阻率测试仪
四探针电阻率测定仪
GEST-126
四探针电阻率测定仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻率测定仪
四探针电阻率方阻测试仪
GEST-126
四探针电阻率方阻测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻率方阻测试仪
四探针电阻率测试仪
GEST-126
四探针电阻率测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻率测试仪
探针式电阻率测试仪
GEST-126
探针式电阻率测试仪 该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。探针式电阻率测试仪
硅芯电阻率测试仪
GEST-125A
硅芯电阻率测试仪 本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 硅芯电阻率测试仪
线缆屏蔽层电阻率测试仪
GEST-125A
线缆屏蔽层电阻率测试仪 本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 线缆屏蔽层电阻率测试仪
电缆屏蔽电阻率测试仪
GEST-125A
电缆屏蔽电阻率测试仪 本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 电缆屏蔽电阻率测试仪
半导电屏蔽电阻率测试仪
GEST-125
半导电屏蔽电阻率测试仪 本测试架有以下特点: 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 半导电屏蔽电阻率测试仪
高温电阻率测斜组合仪
GEST-125
高温电阻率测斜组合仪 本测试架有以下特点: 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 高温电阻率测斜组合仪
高低温电阻率测试仪
GEST-125
高低温电阻率测试仪 本测试架有以下特点: 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 高低温电阻率测试仪
高温绝缘材料电阻率测试仪
GEST-125
高温绝缘材料电阻率测试仪 本测试架有以下特点: 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 高温绝缘材料电阻率测试仪
粉末微粒电阻率测试仪
GEST-125
粉末微粒电阻率测试仪 本测试架有以下特点: 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 粉末微粒电阻率测试仪
粉末涂料电阻率测试仪
GEST-125
粉末涂料电阻率测试仪 本测试架有以下特点: 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 粉末涂料电阻率测试仪
粉体电阻率仪
GEST-125
粉体电阻率仪 本测试架有以下特点: 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 粉体电阻率仪
粉体电阻率测试仪
GEST-125
粉体电阻率测试仪 本测试架有以下特点: 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 粉体电阻率测试仪
液体导电电阻测试仪
GEST-125
液体导电电阻测试仪 本测试架有以下特点: 1、 技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、 技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 液体导电电阻测试仪
防静电材料表面电阻测试仪
GEST-125
防静电材料表面电阻测试仪 本测试架有以下特点: 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 防静电材料表面电阻测试仪
石墨电极便携式电阻仪
GEST-125
石墨电极便携式电阻仪 本测试架有以下特点: 1、技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 石墨电极便携式电阻仪
低电阻率测试仪
GEST-125
低电阻率测试仪 本测试架有以下特点: 1、 技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。 2、 技术先进工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。 低电阻率测试仪
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