红外显微热像仪

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	Optris Xi400 MO红外显微热像仪	德国optris Xi400 LTMO显微镜光学系统，专门用于印刷电路板分析和电气元件温度测量。可提供目标尺寸 IFOV（80 μm）和 MFOV（240 μm）测量。该红外热像仪将长波红外热像仪与准确对焦的显微镜载物台和专为小型目标优化设计的德国光学元件相结合，分辨率为 382 x 288。
	Optris PI640i MO44红外光学显微热像仪	德国optris红外光学显微热像仪套件是需要对小型电子设备或微机电系统 (MEMS) 进行温度数据测试的工程师的理想之选。能否看到热变化并对小目标进行测量取��于探测器的分辨率，而光学器件可将来自设备的热能聚焦到红外热像仪的探测器元件上。这确保了准确、可靠的温度测量，对微型元件的详细热分析至关重要。显微镜物镜可在 18.2 毫米 x 13.8 毫米的总视场内检测小至 28 微米的目标上的温度变化。
	Optris PI640i MO2X红外光学显微热像仪	德国Optris 红外光学显微热像仪的非接触式温度测量，提供比普通热像仪高达 2 倍放大率，实现直观地观察热变化并对微小目标进行测量，具有优良的分辨率和灵敏度。非常适用于材料科学、电子制造及研发领域，显微镜专为提供深入的热分析和诊断而设计。高性能的物镜可在 5.4 mm x 4.0 mm 的视场内检测到 8 µm 的温度变化。该热像仪支持 32 Hz 或 125 Hz 的帧频
	Optris PI640i光学显微镜红外热像仪	德国研制的显微镜头640红外热像仪是专门为电子板的热检测和小芯片级元件分析而设计的。显微镜头640红外热像仪测量对象和相机之间的距离可以在80至100 mm之间变化。显微镜头640红外热像仪Min可测量28 um的目标温度。

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