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	四探针四点探针四探针测试仪四探针太阳能硅片电阻率测试仪 4PP-scan	四探针四点探针四探针测试仪四探针太阳能硅片电阻率测试仪这款紧凑型仪器在所有轴上均可自动化，可在不到4分钟内创建100点的薄层电阻和晶圆电阻率映射。在点击地图后将探头导航到所需位置后，可以重新测量单点。
	光伏测试专用美国ResMap四点探针 ResMap	光伏测试专用美国ResMap四点探针针：CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及*自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高*度及重复性) 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可
	CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC	CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
	CDE ResMap Model 468 CDE ResMap Model 468	CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
	CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统（电阻率，面电阻） ResMap 178	CDE　ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
	非接触式阻值测量/ lifetime测量 Telecom-STV	非接触式阻值测量/ lifetime测量Telecom-STV 专为太阳能开发硅材用的非接触式阻值测量(non-contact resistivity )、lifetime测量，P/N 测量。提供手持式、或自动的芯片或铸锭 (Ingot/ Chunk) 的自动mapping 测量。*近开发同时自动mapping 阻值测量与芯片厚度测量的机台。

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