激光椭偏仪 - 瞬渺科技（香港）有限公司

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	光学膜厚仪 G5537154215421	美国光学膜厚仪，广泛应用于各种薄膜、涂层光学常数(n and k)和厚度的测量，设备分为在线和离线两种工作模式，操作便捷，几秒钟内即可完成测量和数据分析，USB 连接计算机控制；薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。
	Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试 F20、F30、F40、F50	美国Filmetrics光学膜厚测量仪，利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上*具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50
	***高精度光谱椭偏仪 PHE-101	Angstrom Advanced Inc 是一家专业研发、生产多种不同规格型号的椭偏仪的美国公司，其产品在全球的占有量处于**地位。在其产品家族里包括：单波长、多波长（波长范围可达UV， VIS，NIR和 IR）

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