膜厚测量评价系列 - 瞬渺科技（香港）有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	反射式膜厚测量仪 G547833DD1E869	FPD-LCD、TFT、OLED（有机EL）半导体、复合半导体矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料资料储存 -DVD、磁头薄膜、磁性材料光学材料 -滤光片、抗反射膜平面显示器 -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED 薄膜-AR膜其他-建筑用材料
	椭圆偏光膜厚测量仪（自动） G547836A0E887C	椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。非线性*小平方法解析多层膜、光学常数。
	膜厚测量仪 G54783B57F24A4	薄膜到厚膜的测量范围、UV～NIR光谱分析。高性能的低价光学薄膜测量仪。藉由反射率光谱分析膜厚。完整继承FE-3000机种90%的强大功能。无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手。非线性*小平方法解析光学常数(n:折射率、k:消光系数)
	显微分光膜厚测量仪 G547BE0386FF40	优异的性价比，低价格却可达到相近于**膜厚计的测量再现性。中文化操作介面，入门简易、沟通无障碍。提供完整测量教学、技术支援、点检校正等售后服务。采用标准样品验证膜厚精度与再现性，确保追溯体制的完整。显微镜聚焦下的微距口径测量。

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