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剖面沉积物元素分析仪结合了X-射线荧光分析(X-ray Fluorescence)和数字X-射线成像（digital x-ray micro radiography）技术，用于沉积物样柱（样芯）的非

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Fischerscope?X-Ray XAN XUL XDL XDAL XULM XAN-DDP X-射线光谱分析是透过次级辐射所产生的不同能量特性来辨认元素；其原理是由X-射线管产生初级X-射线荧光照射在受检物质表面上时，元素的电子层内的电子将被激发，而因为能量的原因；一连串

X-RAY膜厚儀是一部採用先進的X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。

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X光检查机|X-Ray检查机用途对PCB定位孔进行观察和参数测量, 可对图像进行各种条件测量，包括圆心位置，点与点距离，圆形面积等，并可根据设定参数进行判定。

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