本公司专业提供TRF5000 X-ray膜厚仪 镀层测厚仪 成分检测分析 能量色散X荧光光谱仪，为您提供演示、测样、选型、销售及服务。TRF5000 X-ray膜厚仪 镀层测厚仪 成分检测分析, 能量色散X荧光光谱仪更好地应对镀层测试要求，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，特别是提高了单镀层、双镀层、多镀层及复合镀层的测试精度，同时还可以应对其它一些合金成分测试的情况。

探测器（例如HPGe）和硅漂移探测器的分辨率高10倍，并保持高量子效率和高计数率的特点，与其它低温探测器相比，STJ探测器使用更简单也更稳定，非常适合作为高光子通量同步加速器装置的X射线探测器来使用。STJ X-ray谱仪（超导隧道结X射线谱仪），STJ X-ray谱仪（超导隧道结X射线谱仪）,超导隧道结（STJ）X-射线谱仪由美国STAR Cryoelectronics 公司专门为同步辐射研究领域开发的一款高性能低温探测系统。优化设计的STJ探测器既适合作为紫外-软X射线波段范围

X-ray X-ray CCD主要用来探测X射线的光谱信号以及影像信号，探测的能量范围从＜30ev－＞50kev，X-ray CCD主要分为以下三大系列： PI-SX 系列 PI-LCX系列 PI-SCX系列 PI-MTE系列

美国THERMO/CalMetrics X-RAY 测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度的时候进行标准化校准.也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量和强度及相应

适合行业：IC业、电镀业、电子业、精密工业、PCB业、装饰业。

X-ray美国Kubtec公司系列产品已成为标本X光照相系统的**者。紧凑的外型和**封闭的防护使这个设备几乎可以放在人和地方使用。模块化的设计便于维护和升级。这种****的设计保证了设备的长期使用的寿命和**可靠的操作。这些特性赋予了Kubtec极高的性价比。

1,世界**采用低电流(100uA)X 射线发生器设计的RoHS 检测仪 常规能量色散性荧光光谱仪之X-ray发生器电流为1000uA,而ElvaX采用了垂直角度探测器设计，在大大提高特征射线,面积接收比的同时，降低了对激发X射线强度的要求(电流降至100uA,是同业产品的十分之一)，从而提高了X-ray发生器及射线管激发耗损比，延长寿命。 2,****的探测器设计方案 ElvaX为RoHS检测之需

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®是一款适用于大批量材料分析的X-射线光谱仪。

由于可检测元素范围宽至从铝到铀，使得FISCHERSCOPE&r…

名称：X射线镀层测厚仪，俗称膜厚仪，膜厚测试仪，X-RAY膜厚仪等等） 用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费 产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 产品型号,：SFT9200、SFT9250、SFT9255 技术参数：仪器的特长：广泛应用型可测元素：Ti～U X射線管：小型空气冷却型高功率X射线管球(W靶)管电压：45kV 管电流：1mA Be窗滤波器：一次

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