荧光X-Ray膜厚仪 JH
荧光X-Ray膜厚仪

荧光X-Ray膜厚仪由上海简户仪器设备有限公司提供,代理日本进口。为我公司辅导产品,方便为用户配套。

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设备架
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equipment, such as EC400 Dicing saw, SYJ-150 low speed diamond saw and MD-10 Mini X-ray Diffract mete

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 校准片(Ni/Cu)  wi111948  wi111948
校准片(Ni/Cu) wi111948 wi111948

定制各种X-RAY测厚仪、膜厚仪用标准片。

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FISCHERSCOPE X-RAY XDAL X射线荧光光谱仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL X射线荧光光谱仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL X射线荧光光谱仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL X射线荧光光谱仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL X射线荧光光谱仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL X射线荧光光谱仪FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL 是一款适用于大批量材料分析的X-射线光谱仪。由于可检测元素范围宽至从铝到铀,使得,FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL 的应用范围延伸至从工业到科学领域。无论分析应用于冶金上的,地质上的,石化上的还是其它种类的材料,FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL 都

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德国X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 X-RAY XDL210/220/230/240
德国X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 X-RAY XDL210/220/230/240

X-RAY XDL210/220/230/240 德国X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,德国X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。

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X-RAY金属镀层测厚仪 X-RAY
X-RAY金属镀层测厚仪 X-RAY

X-RAY X-RAY型金属镀层测厚仪是对导磁性基体上金属镀层厚度进行非破坏性厚度测量的仪器。它既可测平面导磁性基体上的金属镀层的厚度,也可测各类异型面导磁性基体上的金属镀层的厚度。该仪器体积小、操作方便,、可靠性好,适应于各种使用环境。功能特点:微点小探头点测范围小于1mm,**解决了凹凸曲面、细薄零件测量难题;并能在瞬间,完成对镀层连续的测量扫描,测量精度已经达到X荧光同一等级;还由于采用超高频,使得钢铁

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日立ALOKA PDM-127 χ线个人剂量计 日本ALOKA射线检测仪 PDM-127
日立ALOKA PDM-127 χ线个人剂量计 日本ALOKA射线检测仪 PDM-127

日立ALOKA PDM-127 χ线个人剂量计 日本ALOKA射线检测仪本产品适合实验室、工厂(X-Ray)、医院从事X射线工作者;随时检出X射线泄漏量;可以按时间周期计算累积剂量。日立ALOKA PDM-127 χ线个人剂量计 日本ALOKA射线检测仪

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X射线个人剂量计/个人剂量计/X射线检测仪 H8216
X射线个人剂量计/个人剂量计/X射线检测仪

X射线个人剂量计/个人剂量计/X射线检测仪 型号:H8216产品简介: 本产品适合实验室、工厂(X-Ray)、医院从事X射线工作者;随时检出X射线泄漏量;可以按时间期间计算累积剂量。 此外,还可,以提供能量范围、各种测量范围的X射线泄漏量检出器。 放在个人衬衣口袋中,随时检测照到人体的X射线泄漏量,按时间累加

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XRF-2000PCB型X-RAY膜厚仪 XRF-200PCB
XRF-2000PCB型X-RAY膜厚仪

XRF-2000PCB型X-RAY膜厚仪 ,此仪器分为3种型号:XRF-2000H镀层测厚仪,XRF-2000L镀层测厚仪,XRF-2000PCB镀层测厚仪. 此仪器又叫: X射线镀层测厚仪,金属,镀层测厚仪,X光测厚仪,电镀层测厚仪,X-RAY膜厚仪, 镀层膜厚仪,X射线荧光金属镀层测厚仪, X射线荧光分析仪, X射线荧光检测仪等等

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GL-1800 新型X-ray检测系统 GL-1800
GL-1800 新型X-ray检测系统

X射线照相法一直使用*广泛的无损探伤方法,但是仅胶片一项,每年就需要十几万元,而X射线实时成像系统的检测费用还不及照相法的1%,每年节约成本在十万元以上。但该系统价格昂贵,一次成本高,以及技术标准

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FSCAN3000系列X-RAY异物检测机 FSCAN3000
FSCAN3000系列X-RAY异物检测机

FSCAN3000系列X-RAY异物检测机 针对食品行业的异物检测开发的X-射线异物检测机。作为可以自动检测出肉眼无法看到的食品中的异物(金属,石子,玻璃,骨头等)以及产品内部的缺陷(Void, cracks)的装置

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