红外测温仪

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	OPTCT3MH1短波红外测温仪	低温短波红外测温仪CT3MH1特点: • 小巧型红外测温仪，适用于金属、二次金属加工、金属氧化物和陶瓷材料的测量 • 传感头直径为14毫米，长度为28毫米，适用于任何地方，并可在85°C的环境温度下使用，无需冷却 • 温度范围 150 °C - 1000 °C ，曝光时间 1 ms • 波长范围为2.3 μm，以减少对发射率未知材料的测量读数误差
	OPTCT3MH短波红外测温仪	低温短波红外测温仪CT3MH特点: • 小巧型红外测温仪，适用于金属、二次金属加工、金属氧化物和陶瓷材料的测量 • 传感头直径为14毫米，长度为28毫米，适用于任何地方，并可在85°C的环境温度下使用，无需冷却 • 温度范围 100 °C - 600 °C ，曝光时间 1 ms • 波长范围为2.3 μm，以减少对发射率未知材料的测量读数误差
	OPTCT3ML短波红外测温仪	低温短波红外测温仪CT3ML特点: • 小巧型红外测温仪，适用于金属、二次金属加工、金属氧化物和陶瓷材料的测量 • 传感头直径为14毫米，长度为28毫米，适用于任何地方，并可在85°C的环境温度下使用，无需冷却 • 温度范围 50 °C - 400 °C ，曝光时间 1 ms • 波长范围为2.3 μm，以减少对发射率未知材料的测量读数误差
	Optris CTi 1M适用于金属高温工业红外测温仪	德国Optris CTi1M红外测温仪，采用 1.0 μm 短波长有效降低低发射率或未知发射率表面的测温误差。测温范围涵盖了350℃到2200℃。可在高达 125 ℃的环境温度下可靠运行，无需额外冷却系统。
	Optris CTi 2M用于测量金属温度的红外测温仪	德国Optris CTi 2M红外测温仪，采用 1.6 μm 短波长，可有效降低低发射率或未知发射率表面的测温误差。测温范围涵盖了150℃到2000℃。坚固的传感器探头可在高达 125 °C 的环境温度下可靠运行，无需额外冷却系统
	Optris CSmicro 2M红外测温仪适用于测量金属温度	Optris CSmicro 2M 红外测温仪专为测量 250°C 至 1600°C 的温度而设计，在1.6微米的特定光谱范围内能够准确测量金属温度。紧凑的测温仪便于在狭小空间内安装，非常适合集成到机械设备中，用于测量如钢、钨和铁等高温金属。其距离-测点尺寸比高达75:1，确保了远距离的*温度测量。大传感头温度可达125°C。
	Optris CSlaser 2M用于金属表面陶瓷材料红外测温	德国Optris CSlaser 2M红外测温仪专为测量金属表面、金属氧化物和陶瓷的温度而设计。其短波长确保在广泛材料上的准确读数。配备双激光瞄准功能，可准确标记测量点，提升测量精度。测量范围从250°C至1600°C，测量点小到0.5mm，响应时间低至10ms，适用于各种工业应用。提供250°C至800°C（2ML）或385°C至1600°C（2MH）的温度范围，并且IP 65（NEMA-4）前置安装适用于真空过程（可达10^-3 mbar），适应多种工业环境。
	Optris CTlaser 1M适用于高温金属陶瓷的温度测量	德国Optris CTlaser 1M 红外测温仪，适用于高温金属陶瓷的温度测量。在光谱范围和光学分辨率方面，CTlaser 1M 系列的专业工作范围为 1.0 µm，温度范围从 485°C 到 2200°C
	Optris CTlaser 2M适用于金属二次金属加工和陶瓷测温	德国Optris CTlaser 2M系列提供非接触温度测量，适用于金属、二次金属加工和陶瓷，测量范围从250°C到2000°C。型号包括2ML（250°C-800°C）、2MH（385°C-1600°C）和2MH1（490°C-2000°C），光学分辨率为150:1或300:1。无需冷却即可在高达85°C的环境中运行，系统精度为±0.3%或±2°C，重复性为±0.1%或±1°C，配有双激光瞄准标记以增强精度。
	Optris CT1M用于高温金属测量的红外测温仪	Optris CT1M系列高温计可在不同型号下测量 485°C 至 2200°C 的温度范围。适合于金属、金属氧化物及陶瓷等材料的高温测量。短波长能够减少在发射率较低或变化时的测量偏差。Optris 特别推荐使用短波长高温计，因其对这些影响因素具有良好的抗干扰能力，能确保持续稳定的性能。
	Optris CT 2M适用于高温金属材料非接触测温	德国Optris CT2M 测温仪有不同的型号，测量 250°C 至 2000°C 的温度，适用于不同温度范围：2ML（250…800 °C）、2MH（385…1600 °C）和 2MH1（490…2000 °C）。配备 InGaAs 探测器，专用光谱范围约为 1.6 微米，红外传感器能够**测量钢、钨、铁、镍和半导体等高温金属应用中的温度。
	OPTCTi2MH1工业红外测温仪	德国Optris CTi 2MH1红外测温仪，采用 1.6 μm 短波长，可有效降低低发射率或未知发射率表面的测温误差。测温范围涵盖了490℃到2000℃。坚固的传感器探头可在高达 125 °C 的环境温度下可靠运行，无需额外冷却系统
	OPTCTi2MH工业红外测温仪	德国Optris CTi 2MH红外测温仪，采用 1.6 μm 短波长，可有效降低低发射率或未知发射率表面的测温误差。测温范围涵盖了385℃到1600℃。坚固的传感器探头可在高达 125 °C 的环境温度下可靠运行，无需额外冷却系统
	OPTCTi2ML工业红外测温仪	德国Optris CTi 2ML红外测温仪，采用 1.6 μm 短波长，可有效降低低发射率或未知发射率表面的测温误差。测温范围涵盖了250℃到900℃。坚固的传感器探头可在高达 125 °C 的环境温度下可靠运行，无需额外冷却系统
	OPTCTi2MXL工业红外测温仪	德国Optris CTi 2MXL红外测温仪，采用 1.6 μm 短波长，可有效降低低发射率或未知发射率表面的测温误差。测温范围涵盖了150℃到500℃。坚固的传感器探头可在高达 125 °C 的环境温度下可靠运行，无需额外冷却系统
	OPTCTi1MH1高温工业红外测温仪	德国Optris CTi1M红外测温仪，采用 1.0 μm 短波长有效降低低发射率或未知发射率表面的测温误差。测温范围涵盖了800℃到2200℃。可在高达 125 ℃的环境温度下可靠运行，无需额外冷却系统。
	OPTCTi1MH高温工业红外测温仪	德国Optris CTi1M红外测温仪，采用 1.0 μm 短波长有效降低低发射率或未知发射率表面的测温误差。测温范围涵盖了350℃到2200℃。可在高达 125 ℃的环境温度下可靠运行，无需额外冷却系统。
	OPTCTi1ML高温工业红外测温仪	德国Optris CTi1M红外测温仪，采用 1.0 μm 短波长有效降低低发射率或未知发射率表面的测温误差。测温范围涵盖了350℃到2200℃。可在高达 125 ℃的环境温度下可靠运行，无需额外冷却系统。
	OPTCTi1MXL工业红外测温仪	德国Optris CTi1M红外测温仪，采用 1.0 μm 短波长有效降低低发射率或未知发射率表面的测温误差。测温范围涵盖了350℃到2200℃。可在高达 125 ℃的环境温度下可靠运行，无需额外冷却系统。
	OPTCSL2ML红外测温仪	两线制红外测温仪CSL2ML特点: 适用于二次金属加工和陶瓷材料的温度测量 • 温度范围 250 °C - 800 °C 响应时间 10 ms • 标准两线制输出，可靠的数据传输和易于集成到 PLC • 双激光瞄准标记测量目标 • 通过USB快速设置传感器参数和实时测量 • 可靠的工作在85 °C环境，无需额外的冷却
	OPTCSL2MH红外测温仪	两线制红外测温仪CSL2ML特点: 适用于二次金属加工和陶瓷材料的温度测量 • 温度范围 385 °C - 1600 °C 响应时间 10 ms • 标准两线制输出，可靠的数据传输和易于集成到 PLC • 双激光瞄准标记测量目标 • 通过USB快速设置传感器参数和实时测量 • 可靠的工作在85 °C环境，无需额外的冷却
	OPTCTL1ML红外测温仪	红外测温仪CTL1M系列的测温范围 250 - 2200℃分段。距离系数高达300:1，响应时间 1 ms。红外测温仪CTL1M系列具有4-20mA的模拟量输出信号及数字信号。红外测温仪CTL1M系列双激光瞄准，应用于高温金属行业测温现场,陶瓷材料温度。
	OPTCTL1MH红外测温仪	特点: • 适用于测量金属、二次金属加工及陶瓷材料的温度 • 双激光瞄准，在任何距离下都能够通过双激光瞄准被测物体的真实测温点位置 • 光学分辨率300:1，可选择不同焦距的测温仪 • 温度范围从 650 °C to 1800 °C, 测量目标小至 0,45 mm，响应时间1 ms • 可在85°C的环境温度下使用，无需冷却，在50°C时自动激光开关关闭 • 光谱范围 1.0 μm
	OPTCTL1MH1红外测温仪	特点: • 适用于测量金属、二次金属加工及陶瓷材料的温度 • 双激光瞄准，在任何距离下都能够通过双激光瞄准被测物体的真实测温点位置 • 光学分辨率300:1，可选择不同焦距的测温仪 • 温度范围从 800 °C to 2200 °C, 测量目标小至 0,45 mm，响应时间1 ms • 可在85°C的环境温度下使用，无需冷却，在50°C时自动激光开关关闭 • 光谱范围 1.0 μm

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