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产品资料

SANKO三高 膜厚计/X射线荧光涂层测厚仪

SANKO三高 膜厚计/X射线荧光涂层测厚仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:SANKO三高 膜厚计/X射线荧光涂层测厚仪
  • 产品型号:EX-851
  • 产品展商:SANKO三高
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简单介绍
产品描述

SANKO三高 膜厚计/X射线荧光涂层测厚仪EX-851

SANKO三高 膜厚计/X射线荧光涂层测厚仪EX-851

特点

  • 监视器屏幕显示测量部分,直观显示被测物体上的电镀附着力分布。
  • 通过 Windows® 软件增强报告生成功能。


仕 様

X 射线源

油浸微型微焦 X 射线管

靶:钨

管电压:50 kV/管电流可变

照射方式

顶面垂直照射法

探测器

比例计数管

測定可能範囲
原子番号22~24:0.02~約20㎛
原子番号25~40:0.02~約30㎛
原子番号41~51:0.02~約70㎛
原子番号52~83:0.01~約10㎛
样品观察

CCD 彩色照相机(自动对焦)

工作台尺寸
200×200
測定物*大高さ
90㎜
主机尺寸
740(W)×530(D)×660(H)


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