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- 产品名称：Dage XD7500VR Jade FP X光检查机
- 产品型号：
- 产品展商：其它品牌
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简单介绍
Dage X-ray设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。
产品描述
Dage XD7500VR Jade FP X光检查机
适应场变化的高性价比生产性设备平台
Nordson DAGE XD7500VR Jade FP X光检查机使用新平板探测器技术，可提供高效的清晰实时影像的产品检测。Nordson DAGE开放、透射式X光管具有使用寿命长的灯丝技术，配备133万CMOS平板探测器，使得该系统在实时的高放大倍率，高解析度X影像技术。X光管设计在底部 ， 通过等中心线设计操作平台的移动和影像探测器的倾斜，所有的控制可通过软件简单的点击操作完成，不需要摇杆操作。如此可实现产品的**无碰撞检测。所有的功能可以简单快捷进行自动检测，而不需要进行复杂的编程技术。
优势
Nordson DAGE开放、透射式X光管
特征分辨率<0.95μm
在*高160KV管电压，3W标靶功率时仍可达到次微米级特征分辨率
使用Nordson DAGE 133万像素，10帧/秒的CMOS 平板探测器，可实现实时模式影像增强功能，且使用寿命长
1400倍几何放大倍率，4200倍系统放大倍率
*大样品尺寸：29"x 22.8"(736 x 580 mm)
保持放大倍率不变的情况下*大可达到65度倾斜角
23"TFT LCD 显示器
自动检测功能不需具备任何编程技巧
高清晰实时影像
微CT选项
参 数
· Nordson DAGE VR950新技术、开放、透射式X光管:
- 所有电压均可达到<0.95微米特征分辨率
- *高电压160KV，标靶功率: 3W
- 灯丝组件使用寿命长
- 自动稳压光管
· 1,400 倍光学放大倍率 (4,200 倍系统放大倍率)
· 简单，无碰撞，高放大倍率，高解析度检测系统:
- 在倾斜角度下检测同样具备上述特点
- 无摇杆，鼠标点击操作
· *大样品检测尺寸:29"x 22.8"(736 x 580 毫米)
· *大检尺寸:20"x 17.5"(508 x 444 毫米)
· 达65度倾斜角检测
- 测试点360度环绕旋转检测
- 等中心操作平台结构保证了可视范围内的影像分辨率
· 使用寿命长的33万像素(1536*864像素比)CMOS数字探测器:
-10帧/秒的全息“实时”影像成像系统
- 实时影像增强功能
· 16位数字影像处理系统
· 防震动控制处理
· 23" TFT LCD操作显示器
· Nordson DAGE X射线影像操作软件包含如下功能:
- 自动或手动进行元器件失效分析，包括BGA和QFN
- 简单快捷制作稳定的自动检测程序
- 贯穿孔填充百分比计算
- **的测量功能
- 可自动或手动测量芯片内气泡比例
- X影像导航图，方便定位缺陷位置
- 使用简单，无需复杂的摇杆操作
· 外壳全封闭式铅屏蔽**系统
- 射线辐射泄漏量<1μSv/hr
系 统
尺寸: 57x67x77.5 (宽x长x高)
尺寸: 1450x1700x1970 mm (宽x长x高)
系统质量: 1950千克 (4300 磅)
*大样品重量: 5 千克
电源: 单相200–230伏, 16安培
*大功率: 1000 瓦
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