产品名称：SHASHIN KAGAKU写真化学红外板厚度监测器

特征

红外板厚度监测器测量半透明板的厚度，如电池隔板、低反射涂层，如黑色光刻胶和硅。它可用于从实验室水平到生产中在线 100% 检查的所有应用。红外吸收系统由一个带有透射式光学系统的紧凑型镜面探头组成，可以同时测量多个参数，例如薄膜厚度、密度和成分，超过 100 个波长。

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   测量半透明片材、低反射膜、硅等的厚度，这在光学干涉测量法中是难以实现的

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   紧凑型探头

   通过采用小型 30 mm 反射探头，它可以安装在设备或生产线的狭小空间内。此外，由于探头仅通过光纤电缆连接到主体，因此具有优异的耐环境性。

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   高速测量
   在 100 个点或更多点同时对 950 nm 至 1650 nm 的近红外波长进行采样

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   厚度测量再现性 0.1% 以下 （3σ）

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   测量算法

   算法	校准样品	参数数量
   兰伯特-比尔定律	1	厚度
   *小二乘回归法	2 个或更多	多个参数 （厚度、密度、复合比例等）