古董文物鉴定光谱仪采用X荧光能谱分析技术对各类样品中的元素含量进行快速测量。它具有无需进行样品前处理,直接对原始样品进行测量,100秒内即可获得满意的分析结果，是古文物检测必备的科学检测仪器。

这款X荧光测硫仪主要用于测量石油及其制品（及其他液体）中S的含量，也能测量煤、碳黑等固体材料中的全硫（S）的含量。它符合国家标准GB/T 17040和GB/T 11140的相关要求。它的主要特点为,：采用小型X光管做激发源，不含同位素放射源；采用薄窗充气正比计数管和特殊的光路系统，使检测限达到10ppm量级；*快60秒给出结果；外形美观、时尚。并具有：一体化、连续测量标准样法、分析时不接触不破坏样品

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X荧光谱分析仪仪器置换，分析仪器以旧换新

使用领域：电子行业、机械制造、医疗卫生、生态研究、冶金有色、食品工业和商业、珠宝...

美国泰克TDS3024B 数字荧光示波器（价格优惠）?信号保真度 　　DPO – 超级波形捕获量 (高达 3,600 wfms/s) 　　采样率 – 准确的波形重构 (5 GS/s 采样率, & sin(x)/x 内插技术) 　　**触发和数**算 　?便携性 　　体积轻便 (7磅) 　　电池工作 (3 小时) 　?操作的简易性 　　传统的用户界面和操作 　　OpenChoice 桌面程序 　　

X-Strata920 深圳市方源仪器有限公司—英国牛津仪器指定中国总代理商!英国牛津仪器台式X射线荧光测厚分析仪X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。利用X射线荧光（XRF,）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。英国牛津仪器台式X射线荧光测厚分析仪X-Strata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出**的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

SPECTRO ATLAS手持式X荧光分析仪 SPECTRO ATLAS分析仪操作简单直观。操作人员可先将仪器对准待侧物，然后激发。仪器的W...

AN2100X AN2100X荧光多元素分析仪 价优 现货021 - 51o82219搜索关键词:多元素分析仪 荧光多元素分析仪 有机元素分析仪 X荧光多元素分析仪 AN2100成功利用了光谱仪的“分光技术”，能完全分开Si、Al等相邻元素，提高了Si、Al分析的准确度与测量精度

X荧光光谱仪EDX6600能够检测：合金（如黄铜、不锈钢等合金）所含元素含量分析（如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素）；应对欧盟RoHS指令中六种物质,涉及的五种元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr测试，测量时间为100-300秒.X荧光光谱仪操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作。

TL3001正置落射荧光显微镜配大视野目镜10X直径20mm；无限远平场消色差物镜；落射器荧光装置荧光滤光片组 B激发光波段:420~485nm，荧光滤光片组 G激发光波段:460~550nm，荧光滤光片组 UV激发光波段330~400nm，荧光滤光片组 V激发光波段395~415nm

CMI900台式X荧光镀层测厚仪坚固耐用的设计，可以在实验室或生产线上操作。经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台。适用行业：电子元件，五金电镀，合金。