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深圳市方源仪器提供的便携式膜厚测试仪CMI250X射线荧光测厚仪有着测量结果、日期及时间、统计分析等储存后可通过连接线发送到您的电脑技术。便携式膜厚测试仪CMI250X射线荧光测厚仪还支持双功能技术

SPECTRO ATLAS手持式X荧光分析仪 SPECTRO ATLAS分析仪操作简单直观。操作人员可先将仪器对准待侧物，然后激发。仪器的W...

AN2100X AN2100X荧光多元素分析仪 价优 现货021 - 51o82219搜索关键词:多元素分析仪 荧光多元素分析仪 有机元素分析仪 X荧光多元素分析仪 AN2100成功利用了光谱仪的“分光技术”，能完全分开Si、Al等相邻元素，提高了Si、Al分析的准确度与测量精度

X荧光光谱仪EDX6600能够检测：合金（如黄铜、不锈钢等合金）所含元素含量分析（如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素）；应对欧盟RoHS指令中六种物质,涉及的五种元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr测试，测量时间为100-300秒.X荧光光谱仪操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作。

TL3001正置落射荧光显微镜配大视野目镜10X直径20mm；无限远平场消色差物镜；落射器荧光装置荧光滤光片组 B激发光波段:420~485nm，荧光滤光片组 G激发光波段:460~550nm，荧光滤光片组 UV激发光波段330~400nm，荧光滤光片组 V激发光波段395~415nm

CMI900台式X荧光镀层测厚仪坚固耐用的设计，可以在实验室或生产线上操作。经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台。适用行业：电子元件，五金电镀，合金。

X荧光光谱分析仪Ux-220，Ux-220三重射线防护系统；人性化操作界面；综合应用经验系数法、基本参数法V6.0分析软件。可完全满足RoHS/WEEE/无卤相关管控要求。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于多材料的工厂制程控制。 X荧光光谱分析仪Ux-220

能量色散X 荧光分析仪 (厂家供应) 是我公公司专门应对欧盟国家的卤素测试要求和RoHS 要求而开发的一款 能量色散X荧光分析仪联系人：黄敬华 13632977860 0755-29559650 QQ:76774296

ROHS检测仪（X荧光光谱仪）：元素分析范围从硫（S）到铀（U）分析检出限可达1ppm分析含量一般为1ppm到99.99％任意多个可选择的分析和识别模型

CMI900 X荧光镀层测厚仪CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 高性能X射线荧光光谱仪快速**的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线