X射线荧光镀层厚度测量仪 FT160 苏州邦鑫电子技术有限公司

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产品名称：X射线荧光镀层厚度测量仪 FT160
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简单介绍

▶ PCB、半导体和电子行业专用款 (1) PCB / PWB 表面处理：控制表面处理工艺的能力决定线路板的品级、可靠性和寿命。根据IPC 4556和IPC 4552A测量非电镀镍（EN，NiP）电镀厚度和成分结构。FT150大面积载台，适合各种软板硬板镀层分析。 (2) 电子组件的电镀：零件必须在规格范围内被电镀，以达到预期的功能、机械及环境性能。日立系列膜厚设备，可以测量小的试片或连续带状样品，从而达到引线框架、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。 (3) IC载板：半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。 (4) 服务电子制造过程(EMS、ECS)：采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点，实现从进厂检查到生产线流程控制，再到*终质量控制。

产品描述

FT160为微型电子器件的微焦斑分析，这款不会过时的仪器，专为微焦斑和薄镀层分析而设计，可应对日益小型化的电子行业及PCB板镀层的挑战。

■ FT160可提供：
1. 毛细管聚焦光学组件和高灵敏度SDD检测器。
2. 小于50μm的样品测量
3. **的性能，以满足半导体芯片技术的挑战。
4. 快速得到结果，使用简单，以提高生产力。
5. 加快样品呈现速度的宽大样品舱门和样品台。

6. 进行测试监控的宽大样品观察窗。

项目	描述
X射线照射方向	上方照射式
测量元素	Al (13) ~ U(92)
靶材	钨(W) target、钼(Mo) target
测定环境	大气
Ｘ射线发生部	45kV, 钼Mo 靶材
设计	毛细管聚焦Poly-capillary
管电流	*大1000μA　可变
X射线检测部	Silicon Drift Detector (SDD)
测定面积	φ0.030mm(FWHM 0.017mm)
*大样品面积	FT160长400mm×宽300mm×高100mm FT160L 600mm x 600mm专用款
电动XY样品台驱动移动范围	400×300mm
CCD Camera	高质量相机可变焦16倍
对焦模式	雷射自动对焦
测量模式	Thin Film FP (5层, 10元素)/检量线法

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X射线荧光镀层厚度测量仪 FT160