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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	SplitPea 超微量ATR	ATR和镜面反射功能提供了应用的多功能性。由于很少或没有样品制备，样品吞吐量很高。通常保持样品的完整性。采样面积小-硅晶体ATR的直径小于250µm，金刚石的直径小于500µm。
	WafIR™ 晶圆测定ATR	无障碍的水平取样表面可容纳直径从52 x 10 mm到203 mm（8英寸）的晶片。非接触式采样方法；与耦合晶体的接触在测量区域之外。由于多次反射，灵敏度很高。对于0.770毫米厚的晶片，从涂层表面提供33次反射。
	VariGATR™掠角ATR	方便的水平采样表面。内置带滑动离合器的压力施加器，可重复施加压力。从60º到65º的连续可变角度，可实现大灵敏度的优化。防反冲机制允许*、可重复的角度选择。
	Horizon 13次反射ATR	无阻碍的水平取样表面。 l 十三次反射。 l 易于更换的取样板，固体取样板包括用于分析粉末的压力板以及晶体。用于测量液体和糊状物的垫片密封槽，用户可更换ATR晶体。
	ConcentratIR2多次反射ATR	金刚石10次反射标称入射角为30°的Si晶体11次反射。扩展Si晶体入射角为30°和23次反射入射角为45°和10°的钻石反思。

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