UV-A（双通道）紫外辐照计产品用途 UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。 UV-A（双通道）紫外辐照计技术参数 探头： UV-420nm 探头 UV-365nm 探头 波长范围及峰值波长: λ：(375～475)nm；λP＝420nm λ：(320～400)nm；λP＝365nm 紫外带外区杂光： UV420：小于0.02% UV365：小于0.02% 辐照度测量范围： (0.1～199.9×10³) μW/cm² 相对示值误差： （相对与NIM标准） 角度响应特性： ±5%(α ≤10°) 线性误差： ±1% 短期不稳定性： ±1%（开机30min后） 响应时间： 1秒 使用环境： 温度(0～40)℃，湿度＜85%RH 尺寸和重量： 160mm×78mm×43mm；0.2kg 电源： 常规使用6F22型9V积层电池一只 亦可使用数据线连接USB接口、5V电源适配器供电 整机功耗 ＜0.2VA UV-A（双通道）紫外辐照计产品特点 * 光谱及角度特性经校正 * 数字液晶显示，带背光 * 手动/自动量程切换 * 数字输出接口（USB冗余供电） * 低电量提醒 * 自动延时关机 * 有数字保持 * 轻触按键操作，蜂鸣提示
UV-A（双通道）紫外辐照计产品用途
UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
UV-A（双通道）紫外辐照计技术参数
沪公网安备 31011002002681号
