技术参数

温度范围：室温～700℃或-150～200℃
试样尺寸：Φ6 ～ 7 × 10 ～ 15 mm
测定气氛：真空中或低圧高純度H eガス中
测定方式：二重光路マイケルソン型レーザ光干渉方式

主要特点

1．根据并行移动式试料保持者(**申请中)试料的组合容易。
2．读出分辨率2nm的超精密测量。
3．高分子薄膜的厚方向测量可能。

※163℃附近的玻璃转移热膨胀数据也测量能。
※2μm左右的热膨胀稳定能测量。
※高分子胶卷的厚0.05mm的热膨胀测量也能。

仪器介绍

*新的光学技术被运用，而开发了超高感应度激光热膨胀计。又作为标准性的热膨胀计的校对装置对未知试料的**热膨胀测量是*适合的装置。
本装置依据着JISR3251-1995「由于低膨胀玻璃的激光干涉法的线膨胀率的测量法」 

●用途
1．低膨胀金属材料的质量控制及研究开发。
2．显象管和封止玻璃的精密热膨胀测量。
3．各种电子部件的精密热膨胀测量。
4．标准热膨胀计的标准原器，校对装置。

分析方法

此仪器尚未上传分析方法

相关资料