1. 鮮明的SEM圖像上進行高精度測量 從極低倍到高倍，在圖像上就可以直接進行長度和角度測量，即在鮮明的圖像上進行高精度測量。保存後的圖像也可以用SMile View軟體（選購件）打開並進行測量。 2. 3D觀察-測量（選購） JCM-5700利用掃描電子顯微鏡焦深大的特點，可以進行立體的高度測量。同一個視野，傾斜角度改變10°左右，獲得兩張圖像，進行高度測量。 3. 不僅可以觀察圖像，還可以進行成分分析 不僅可以利用二次電子資訊進行樣品表面觀察，還可以利用背散射電子成份襯度像進行異物及多層膜觀察。另外，還可以使用能量分散型光譜儀（EDS）進行元素分析。日本電子生產能譜儀JED-2300可以與主機實現一體化，將點鏡擴展為分析型點鏡。
JCM-5700專為工業生產研究使用而設計的一款高性能可移動式電子顯微鏡，他的運行成本低，儀器操作簡單，並且啟動速度快，任何人都能得到良好結果的高度再現性。是一款經濟實用性電子顯微鏡。掃描電子顯微鏡（SEM)與光學顯微鏡和鐳射顯微鏡相比，具有焦距更深，解析度更好的特點。相反，得不到象光學顯微鏡那樣獲得的純自然光澤。我們利用掃描電子顯微鏡的主要特點，可以廣泛應用於科研和生產。
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