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- 产品名称：日本日置HIOKI3561微电阻计/电阻测试仪
- 产品型号：3541
- 产品展商：日本日置/HIOKI
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简单介绍
日本日置HIOKI微电阻计/电阻测试仪日本日置HIOKI微电阻计/电阻测试仪
产品描述
现货多台日本日置HIOKI3541 微电阻计/电阻测试仪
宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计
•广范围测量 低0.1μΩ(20.00mΩ)，高110MΩ
•快速采样,快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异)
•补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功能
•运用4端子测量技术,测试线接触电阻可忽略不计
•具备统计、演算功能。若再另配选件的9670,可达到印字功能。
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基本参数
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![]() 电阻计3541
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测量电流
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20mΩ(大显示20.0000mΩ, 分辨率0.1μΩ)~100MΩ量程(大显示110.000MΩ，分辨率1kΩ)，11档切换
[Low Power ON时] 2Ω(大显示2.00000Ω，分辨率10μΩ)~2kΩ量程(大显示2.00000kΩ，分辨率10mΩ)，4档切换
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测量精度
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(SLOW2) ± 0.007% rdg. ±0.0015%dgt.(2k/20kΩ)
[Low Power ON时]: ± 0.011% rdg. ±0.01%dgt.(2～2kΩ)
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测量电流
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DC 1A～100nA, [Low Power ON时]: DC 10m～10μA
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开路端子电压
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DC 5V(20/200m), 2.6V(2～20k), 13V(1M～100M),[Low Power ON时]: 60mV
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采样速度
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快速
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中速
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低速 1
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低速 2
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50Hz
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0.6ms ± 0.3ms
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21ms ± 1ms
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155ms ± 5ms
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455ms ± 10ms
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60Hz
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0.6ms ± 0.3ms
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17ms ± 1ms
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149ms ± 5ms
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449ms ± 10ms
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应答时间(纯电阻时)：上记采样时间+约1ms(根据设定内容、试料的不同,会有差异)
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电阻计3541
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其它功能
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温度测量(-10.0~99.9 °C )，温度补偿阻抗值换算，卷线温度上升值换算，比较功能，多可储存装填30种设定条件,分类(BIN)测量(10分类), 统计运算, 补偿偏置电压，迟延 , 平均
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数子输入/输出
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输出: BCD, 测量结束,比测仪结果, BIN结果, NG/开放连接器输入: 设定条件选择, 触发, 校准, 0ADJ,印刷 /C-MOS
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供应电源
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AC 100～240V, 50/60Hz, 30VA max.
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体积于重量
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215宽 × 80高 × 295厚mm, 2.6kg
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