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产品资料

Agilent4156C精密半导体参数测试仪,惠普HP4156C

Agilent4156C精密半导体参数测试仪,惠普HP4156C
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  • 产品名称:Agilent4156C精密半导体参数测试仪,惠普HP4156C
  • 产品型号:Agilent4156C
  • 产品展商:美国安捷伦Agilent/是德Keysight
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简单介绍
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产品描述

Agilent4156C精密半导体参数测试仪,惠普HP4156C

Agilent4156C精密半导体参数测试仪www.ony5117.com/s02/product/2014/10/24/21857388.html
Agilent4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪,4156C为**器件表征提供了高精度**参数分析的实验室平台。较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力,4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实的基础。41501B扩展测量能力到1A/200V,并给Agilent4156C增加一个低的噪声接地单元和双脉冲发生器。
Agilent4156C是基于PC的参数分析和表征的解决方案,标准配置包括一个参数分析仪,Agilent I/CV 3.0 Lite自动测试软件, Windows XP Professional的操作系统。I/CV 3.0 Lite软件可以提供一个图形操作界面,具有强大的分析工具,探针台驱动,和自动测试工具

特性
· Agilent4156C提供4个内置的高分辨率的源/监控单元(HPSMUs),两个电压源单元(VSUs)和两个电压监控单元(VMUs)
· 1 fA 和0.2 uV的测试精度可满足开发新工技术和评价材料
· 全Kelvin,每个HRSMU有激励源、感应和接地端
· 完成准静态的电容对电压测试
· 自动提取处理参数而不需要人工操作屏幕光标
· 用极低泄漏的SMUs测量特有泄露特性
· 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征
· 用内置的应力模式完成晶片的可靠性测试
· 用图形用户界面完成“点击”测试
· 基于Windows环境的图形数据分析能力
· 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常
· 待机模式不需要外部电源
· 触发模式可以同步AC/DC测试。
· IBASIC 用户功能可以绘图和分析数据。

附注:本公司专业经营各类二手进口仪器(销售、租赁业务),成色新,价格低,技术先进、质量可靠、性能稳定的优良产品。长期承接销售、租赁、维修、回收二手**仪器, 包括Agilent、HP、
Anritsu、Advantest、R/S、/MARCONI/Tektronix等世界知名品牌的网络分析仪、频谱分析仪、综合测试仪、阻抗分析仪.LCR电桥.数字通讯测试仪、高频信号源、数字示波器、天馈线测试仪、电声测
试仪.音频分析仪、等二手高频通讯测试仪器仪表的销售及租赁业务.欢迎来电咨询。
 

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