OTSUKA大冢-嵌入式膜厚监视器
特长 分光干扰法的膜厚计 高精度FFT膜厚解析引擎（**第4303847号） 可以通过有机纤维构筑自由的测量系统 可以组装各种制造设备 可以进行实时的膜厚测量 对应远程操作和多点测量 采用长寿命、高稳定性的白色LED光源 测量项目 多层膜厚解析 用途： 光学胶卷（硬盘、AR胶片、ITO等） FPD相关（注册、固态、SiO2等）