光测系统装置 - 铃田（上海）科技有限公司

产品资讯

请输入产品名称

噪声分析仪纺织检测仪器 Toc分析仪 PT-303红外测温仪转矩测试仪继电保护试验仪定氮仪

铃田（上海）科技有限公司
新增产品 | 公司简介
注册时间：2026-01-26
联系人：
电话：
Email：

首页公司简介产品目录公司新闻技术文章资料下载成功案例人才招聘荣誉证书联系我们

产品目录

当前位置：

首页 > 产品目录 > OTSUKA大冢电子 > 光测系统装置

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢 LCF SERIES	彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES
	小角激光散射仪PP-1000 小角PP-1000	小角激光散射仪PP-1000 激光散射仪小角PP-1000 小角激光散射仪PP-1000 小角激光散射仪PP-1000
	多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA 多检体NANO粒径测量系统	多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA 界达电位ELSZ 多检体NANO粒径测量系统多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA
	OTSUKA大冢界达电位ELSZ ELSZ-2000Z	OTSUKA大冢界达电位ELSZ 粒径量测系统 OTSUKA大冢界达电位ELSZ
	单粒子荧光诊断系统Osuka大冢	可以基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法* 进行测量。 * 与国立材料科学研究所、弘前直人研究员和武田隆研究员联合研究
	高速LED光学特性监视器LE Otsuka	它是一种可以与生产线的控制信号同步，高速在线评估 LED 光学特性的设备。 LE-5400 提供质量控制所需的光学特性信息，例如 NG 判断和分类。
	光谱辐照度测量系统Otsuka大冢	“光谱辐照度测量系统 IL100”评估光源的照度。・从光谱辐照度测量中高精度测量照度・从紫外线到可见光和红外线的宽测量波长范围・可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用・光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可通过专用软件进行测量和照明电��也是集体控制这个设备追求到精良的基础照度测量。
	紫外光谱仪Otsuka大冢苏州售	评估光源在紫外线区域的辐射。・通过光谱辐射度测量高精度测量亮度・支持紫外线、可见光和红外线的宽测量波长范围・可以进行光生物 **性评估它是一种可以测量紫外线亮度的有限设备。
	紫外光谱辐照度测量系统Otsuka	“紫外分光辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区的辐照度。・从光谱辐照度测量中高精度测量照度・从紫外线到可见光的宽测量波长范围・可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用・可以进行生物系统评估必不可少的PFD测量它是一种即使在紫外线区域也能实现高精度测量的设备。产品咨询
	紫外分光光度分布测量系统Otsuka	评估 UV LED 的光分布特性。・基于辐射强度/辐照度的光分布评估・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度可视化用于**和树脂固化的光源的不均匀照射。
	总辐射通量测量系统Otsuka大冢	评估 UV LED 的辐射通量。・性能更高的紫外线 LED 的输出评估・温度评估与温度控制单元相结合支持紫外线 LED 的光学特性评估，预计将被**、净化和树脂固化。
	总光通量测量系统 HM / FM Otsuka大冢	它测量从 LED 到照明的各种光源的总光通量。・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围。・可以通过控制光源的加热/冷却来评估温度特性。繁琐操作要求测量精度高集成半球，样品组方便测量大功率激光光源瓦级对应测量系统对应任何场景总光通量测量多年经验，满足需求支持。
	光谱配光测量系统GPOtsuka大冢电子	一种测量照明设备配光特性的装置。・使用内部开发的分光镜实现高精度测量！ -颜色可以与光分布数据一起测量！- 即使在光谱测量中也可实现相当于照度计类型的高速测量！・可根据配光测量结果进行照度分析！!! -符合标准测量系统！

若网站内容侵犯到您的权益，请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除