量子点评系统 - 铃田（上海）科技有限公司

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	日本大冢高速配光测量系统GP-7 GP-7series	日本大冢高速配光测量系统GP-7 日本大冢高速配光测量系统GP-7 日本大冢高速配光测量系统GP-7
	日本大冢分光配光测量系统GP-2000 GP-SERIES-GP-2000	日本大冢分光配光测量系统GP-2000 日本大冢分光配光测量系统GP-2000 日本大冢分光配光测量系统GP-2000
	日本大冢分光配光测量系统GP-1100 GP-SERIES-GP-1100	日本大冢分光配光测量系统GP-1100 日本大冢分光配光测量系统GP-1100 日本大冢分光配光测量系统GP-1100
	日本大冢分光配光测量系统GP-500 GP-SERIES-GP-500	日本大冢分光配光测量系统GP-500 日本大冢分光配光测量系统GP-500 日本大冢分光配光测量系统GP-500
	日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400	日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400
	日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES	日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES
	日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES	日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES
	日本大冢高速近场配光测量系统 RH50	日本大冢高速近场配光测量系统RH50 日本大冢高速近场配光测量系统RH50 日本大冢高速近场配光测量系统RH50
	日本大冢高速近场配光测量系统 RH1000	日本大冢高速近场配光测量系统RH1000 日本大冢高速近场配光测量系统RH1000 日本大冢高速近场配光测量系统RH1000
	日本大冢高速近场配光测量系统 RH600	日本大冢高速近场配光测量系统RH600 日本大冢高速近场配光测量系统RH600 日本大冢高速近场配光测量系统RH600
	日本大冢高速近场配光测量系统 RH300	日本大冢高速近场配光测量系统RH300 日本大冢高速近场配光测量系统RH300 日本大冢高速近场配光测量系统RH300
	日本大冢量子效率测量系统QE-2000 QE-2000	日本大冢量子效率测量系统QE-2000 日本大冢量子效率测量系统QE-2000 日本大冢量子效率测量系统QE-2000
	界达电位OTSUKA大冢量子点评系统 ELSZ系列激光粒径分析仪	界达电位OTSUKA大冢量子点评系统界达电位OTSUKA大冢量子点评系统激光粒径分析仪激光粒度仪激光粒径仪激光散射粒度分布仪固体表面zeta电位固体zeta电位优良分子量测量分子直径测量分子量测量粒度仪粒径仪粒度分析仪粒度测定仪 zeta电位仪 zeta电位测试 zeta电位测量仪 zeta电位测试仪纳米粒径分析仪 zeta电位测定仪 nanoSAQL 纳米粒度仪 ze
	界达电位OTSUKA大冢量子点评系统 ELSZ系列	界达电位OTSUKA大冢量子点评系统界达电位OTSUKA大冢量子点评系统激光粒径分析仪激光粒度仪激光粒径仪激光散射粒度分布仪固体表面zeta电位固体zeta电位优良分子量测量分子直径测量分子量测量粒度仪粒径仪粒度分析仪粒度测定仪 zeta电位仪 zeta电位测试 zeta电位测量仪 zeta电位测试仪纳米粒径分析仪 zeta电位测定仪 nanoSAQL 纳米粒度仪 zeta电位分析仪粒径分析仪
	OTSUKA大冢-量子点评系统量子ドット評価システム	OTSUKA大冢-量子点评系统量子点材料具有根据粒子直径不同发光波长发生变化的特性。在本系统中，在评价粒子直径以及分散稳定性的同时，也可以对荧光特性进行评价。 OTSUKA大冢-量子点评系统OTSUKA大冢-量子点评系统OTSUKA大冢-量子点评系统
	NIR 量子效率测量系统 QE-5000 Otsuka大冢	可检测单线态氧（活性氧）
	量子效率测量系统 QE-2000 / 2100 Otsuka大冢	可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）。与粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散光。此外，通过采用积分半球单元，可以实现明亮的光学系统，并通过利用这一点重新激发荧光校正，可以进行高精度的测量。此外，QE-2100 能够测量量子效率的温度依赖性，并支持从紫外到近红外的宽波长范围。
	分子量测量系统ELSZneoOtsuka大冢	ELSZneo通过光散射评估物理特性　　　　进入新阶段]这是 ELSZ 系列的*高型号，可测量稀溶液至浓溶液中的 zeta 电位和粒径以及分子量。作为一项新功能，我们采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。它还支持粒子浓度测量、微流变学测量和凝胶网络分析。新型 zeta 电位板单元具有新开发的高盐浓度涂层，可在生理盐水等高盐浓度环境中进行测量。我们还有一系列超痕量细胞单元，可以测量 3 μL 的粒径，扩展了生命科学领域的可能性。
	Zeta电位分子量测量系统ELSZ-2000ZS大冢Otsuka	除了常规的zeta电位和粒度测量之外，它是一种可以用稀到浓溶液测量分子量的设备。支持粒度测量范围（0.6 nm 至 10 μm）和浓度范围（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量为 130 μL 或更大的一次性电池进行测量，通过实际测量电渗流，可以实现高精度的 zeta 电位测量。此外，通过在 0 至 90°C 的宽温度范围内自动进行温度梯度测量，可以进行变性/相变温度分析。
	日本大冢分光配光测量系统GP-4000 GP-SERIES-GP-4000	日本大冢分光配光测量系统GP-4000 日本大冢分光配光测量系统GP-4000 日本大冢分光配光测量系统GP-4000
	日本大冢量子效率测量系统QE-2100 QE-2100	日本大冢量子效率测量系统QE-2100 日本大冢量子效率测量系统QE-2100 日本大冢量子效率测量系统QE-2100
	OTSUKA大冢激光粒度仪 ELSZ系列	界达电位OTSUKA大冢量子点评系统界达电位OTSUKA大冢量子点评系统激光粒径分析仪激光粒度仪激光粒径仪激光散射粒度分布仪固体表面zeta电位固体zeta电位优良分子量测量分子直径测量分子量测量粒度仪粒径仪粒度分析仪粒度测定仪 zeta电位仪 zeta电位测试 zeta电位测量仪 zeta电位测试仪纳米粒径分析仪 zeta电位测定仪 nanoSAQL 纳米粒度仪 ze

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