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产品资料

美国KLA科磊Alpha-Step®D-500 探针式轮廓仪

美国KLA科磊Alpha-Step®D-500 探针式轮廓仪
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  • 产品名称:美国KLA科磊Alpha-Step®D-500 探针式轮廓仪
  • 产品型号:
  • 产品展商:美国KLA科磊
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简单介绍
美国KLA科磊Alpha-Step®D-500 探针式轮廓仪 Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量几纳米到1200微米高的2D台阶。D-500也支持在研发和生产环节中对粗糙度、弯曲度和应力进行2D测量。D-500探针式轮廓仪搭载了140毫米手动载台和具有增强影像控制的**光学系统。
产品描述


美国KLA科磊Alpha-Step®D-500 探针式轮廓仪

美国KLA科磊Alpha-Step®D-500 探针式轮廓仪


美国KLA科磊Alpha-Step®D-500 探针式轮廓仪

美国KLA科磊Alpha-Step® D-500探针式轮廓仪是一款高精度的表面形貌测量设备,专为台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量而设计。以下是对该产品的详细简介:

核心技术

Alpha-Step® D-500采用**的光学杠杆传感器技术,提供高垂直分辨率、长程垂直测量范围和微力控制测量能力。这种技术使得设备能够**测量从几纳米到1200微米的台阶高度,同时支持低触力测量,触力范围可调节至0.03至15毫克,适用于多种软硬材料的**测量。

主要功能

  1. 台阶高度测量‌:能够量化蚀刻、溅射、沉积、旋涂、CMP等工艺中沉积或去除的材料量。

  2. 粗糙度与波纹度测量‌:通过软件过滤功能,将测量值分离为粗糙度和波纹度部分,并计算均方根(RMS)粗糙度等参数。

  3. 翘曲度与形状测量‌:可测量表面的2D形状或翘曲,包括晶圆翘曲和透镜等结构的高度和曲率半径。

  4. 应力测量‌:通过测量薄膜沉积等工艺导致的晶圆表面形貌变化,并应用Stoney方程计算应力。

设备特点

  • 高分辨率‌:垂直分辨率可达亚埃级别,确保测量数据的**性。

  • 大测量范围‌:支持从纳米级到毫米级的台阶高度测量。

  • 用户友好‌:配备500万像素高分辨率彩色摄像头和用户友好的软件界面,便于操作和数据解析。

  • 紧凑设计‌:体积小巧,适合实验室和生产线等空间有限的环境。

应用领域

Alpha-Step® D-500广泛应用于半导体、LED、太阳能、MEMS、汽车和医疗设备等多个行业,是高校、研究机构和实验室进行表面形貌分析的重要工具。


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