计测分析装置 - 成都藤田光学仪器有限公司

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	美国AxoScan and AxoStep - AR/VR光学量测系统/町田科技 AxoScan and AxoStep AR/VR	美国AxoScan and AxoStep - AR/VR光学量测系统/町田科技美国AxoScan and AxoStep - AR/VR光学量测系统/町田科技
	美国AXOMETRICS艾克松-偏极化量测系统 LCD的量测LCOS Cell Gap的测量	应用范围：液晶（LCD）Cell Gap、Pre-tiltangle、Rubbing direction、twist angle量测多波长延迟片／相位差板（In Plate or Out of Plate）测量偏光片（板）测量多层膜（R0,Rth，B）快轴方位角度测量（Fast Axis Orientation) 3D Film的测量（FPR) 多面向的LCD的量测（PSVA Multi一Domain) 搭配软件应用，可量测膜厚、n/k值根据不同机型，搭配不同软件应用，可量测膜厚、n/k值 LCOS Cell Gap的测量 LCOS晶圆Retardance和电压特性关系的测量(须根据选配内容而定) 去极化量测
	美国AXOMETRICS艾克松/VRTF-3-MSRS-XY50-W12光斑式椭圆仪 VRTF-3-MSRS-XY50-W12-001	Axometrics偏光测定仪，为目前偏极化量测中快速的测量系统快速测量快轴方位角度（Fast-axis Orientation）、相位延迟（Retardance）、偏光（Polarization）线性/椭圆/圆形的偏极化测量多波长Retardance频谱的R0(400-800nm) 快速测量Biaxial Films R0、Rth和β(须视机型而定) 具有旋转／倾斜机构，于测量时旋转角度可掌握(须视机型而定) 可承载大样品尺吋:12吋(须视机型而定) 操作容易的软件接口客制化测量模块组合
	美国AXOMETRICS艾克松 / Imaging Spectroscopic Ellipsometer影像式椭圆仪 ISR-1/EllipsoStep	共同特色: 使用旋转式PSCA系统搭配16位CCD相机同一时间量测影像中的每一点位每波长仅2.4秒波长范围介于 250至1,000nm间可选择欲使用镜头倍率特点：小区域的在线扫描薄膜厚度的2D影像
	日本TAISEI大成油液诊断仪 T-ODS-102	一种预测性维护工具，可根据颜色变化量化油状况，以防止机械和设备出现故障。
	日本ASAHI朝日分光光学式膜厚计 OMD-1000	这是一种光谱膜厚监测监视器，利用单色光来监测气相沉积过程中基材上光强度的变化。本公司自产的蒸镀装置也使用该装置，是凝聚了蒸镀部件制造商的专业技术的膜厚监视装置
	日本ASAHI朝日分光透光率检查仪 TLV-305-BP	这是一款可以即时测量固定波长透过率的检查仪
	日本ASAHI朝日分光多通道光谱仪 HSU-100H	这是一款多通道光谱仪，涵盖从紫外到近红外（250 至 1100 nm）的广泛波长，可轻松快速地进行光谱测量。
	美国Strainoptics应变光学VRP-100-LED玻璃偏光应力仪 LCD-GASP-CS
	美国axometrics艾克松AxoScan相位差测试仪 OPMF-1
	日本INFLIDGE英富丽数字流量控制器 DFC-10	数字流量控制器DFC-10**控制超级空气加热器的热风温度和空气流量，以保持给予工件的热量恒定。
	日本PONY小马产业透射密度计 DMP-V	LED 兼容透射密度计
	日本东京光电比色计 CANA-3030	非常适合控制混浊液体的浓度。
	日本东京光电色差色度计 CANA-3040	一键完成 100 次校准
	日本东京光电照度计 CANA-0010	追求“易用性”和“准确性”的精密照度计
	日本东京光电紫外线强度计 UVIC-254	“易用性”和“准确性” 追求“性价比”的一体式强度计
	日本MAGNIX东洋磁气小型手持式高斯计 TGM-200	这款方便的高斯计采用单节电池供电，设计紧凑，可让您在任何地方测量磁性
	日本MAGNIX东洋磁气用于3轴磁场测量的高斯计 HGM-8900	配备了三个8300L低噪声电路
	日本东洋磁气小型磁传感器高斯计 HGM-7100	可减少由于*接近测量样品而产生的光学噪声和感应磁场噪声
	MAGNIX东洋磁气 PC等专用测量系统高斯计 HGM3-4000	使用PC等专用测量系统进行磁通密度分布分析。