触控薄膜瑕疵检测系统

主要特色：

²        适用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜等连续式(Roll to Roll)制程线上即时自动光学检测

²        配备高解析度线型扫描相机，可检出气泡及刮伤等脏污及瑕疵

²        使用多支相机同时进行取像，检测速度快

²        配备位置控制和反馈系统，可得到**及清晰的扫描图像

²        系统具备定位标靶识别功能、地图对应功能*

技术规格：

Chroma*新一代7505-02触控薄膜瑕疵检测系统适用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜等连续式(Roll to Roll)制程线上即时自动光学检测。主要运用CCD 对电容式触控面板表面进行影像拍摄，为以PC-based架构的线扫描(Line-scan)影像检测系统，应用视觉显像检测核心技术，高感光度线性扫描(Line-scan)摄影机，低像差变形镜头(Lens)，高亮度灯源(Lighting)，高速影像撷取卡(Frame Grabber)等。透过即时的同步触发取像并搭配高速的瑕疵检出判断技术，以及精准的记忆体管控技术，达到高速不中断的连续检测, 进行2D 表面瑕疵分析。

选购附件：

主要销售：LCR测试仪,,信号发生器,数字存储示波器,绝缘电阻测试仪扭力扳手扭矩扳手耐压测试仪直流电阻测试仪数字电桥等等测量仪器，测试仪器，工具等。（点击关键词可进入相关产品目录）扭力测试仪瓶盖扭力测试仪数字电桥,扭力扳手

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