光学测高影像仪 QV-B2010

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产品名称：光学测高影像仪
产品型号：QV-B2010
产品展商：s.nicety(美国埃丝·耐斯帝）
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简单介绍

光学测高影像仪QV系列3D视像测量系统采用美国NAVITER 0.7-4.5X，同轴共焦的光学设计变焦镜头，配上专为光学测量而设计的日本 WATC 1/2″CCD彩色影像系统，将被测工件的表面纹理清晰地显现，轮廓层次分明，**无误高性能，高清晰镜头。

产品描述

光学测高影像仪
1、QV系列光学测高影像仪3D视像测量系统采用美国NAVITER 0.7-4.5X，同轴共焦的光学设计变焦镜头，配上专为光学测量而设计的日本WATC 1/2″CCD彩色影像系统，将被测工件的表面纹理清晰地显现，轮廓层次分明，**无误高性能，高清晰镜头。

2、QV系列光学测高影像仪X/Y两轴均装有分辨率为0.001mm的精度的光学尺测量系统，X/Y轴的量测精密度高达（2.0 +L/200）um。
3、QV系列光学测高影像仪工作台铸铁采用天然失效处理，配合瑞士进口SCHNEEBERGER导轨，具有超高精度。
4、完善的自动寻边界及去毛刺功能，减少人为误差，提高工作效率。
技术参数：

仪器型号	QV-B1010		QV-B2010	QV-B2015	QV-B3020	QV-B4030
X Y测量行程	100*100mm		200*100mm	200*150mm	300*200mm	400*300mm
Z轴调焦	150mm		150mm	150mm	150mm	250mm
载重量	15Kg		15Kg	15Kg	15Kg	20Kg
分辩率	0.001/0.0005/0.0001mm
测量精度	(2.5+L/200)um，L=测量长度（单位：mm）
镜头	超低变形，美国NAVITER多段倍率同轴共焦光学设计镜头
放大倍率	光学放大倍率0.7-4.5X，影像放大倍率19－180X
影像系统	高解析度日本WCTC 1/2″彩色CCD摄像头
重复性	2um
操作方式	手动
外形尺寸	10006001400mm	10006001400mm		10006001400mm	12007201600mm	12007201600mm
机身重量	100kg	100kg		100kg	120kg	200kg
工作台底座	工作台铸铁采用天然失效处理，配合瑞士进口SCHNEEBERGER导轨
*大工件高度	170mm
轮廓照明	高亮度LED照明
表面照明	同轴光照明，环形LED照明
电源	110V-240V

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光学测高影像仪