椭圆偏振测厚仪 BXS10-SGC-I
产品简介
椭圆偏振测厚仪 椭圆偏振厚度分析仪 椭圆偏振厚度仪 型号:BXS10-SGC-I ※ 测量范围 1nm-300nm ※ 测量*小值 ≤1nm ※ 入射角 30°- 90° 误差≤0.1° ※ 偏振器方位角读数范围 0°- 180° ※ 度盘刻度 每格2度
产品详细信息
椭圆偏振测厚仪 椭圆偏振厚度分析仪 椭圆偏振厚度仪
型号:BXS10-SGC-I
※ 测量范围 1nm-300nm
※ 测量*小值 ≤1nm
※ 入射角 30°- 90° 误差≤0.1°
※ 偏振器方位角读数范围 0°- 180°
※ 度盘刻度 每格2度
※ 游标*小读数 0.05°
※ 光学中心高度 152
※ 工作台直径 ?70
※ 外形尺寸 730*230*290
※ 主机重量 20kg