.高精度回零椭圆光度法 2.的空间分辨率(1μm), 大面积图像椭圆光度法(多达若干cm2) 3.或多重的激光波长 4.的自动测角计,用于入射角调整n EP3View专用软件,用于仪器控制和基于Windows?的数据分析 5.关注区域及Δ,Ψ绘图n 可通过局部网络实现远程控制和服务
自动椭圆偏振测厚仪 型号:XHPY-2仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高
www.winstrument.cn椭圆偏振光谱技术是近年来随着现代科技的发展而迅速发展起来的光学无损检测方法,它已越来越广泛的用于介电、半导体、金属、有机物等各种材料的光学特性、结构特征、生长,过程和材料质量的快速测试与研究。www.51666810.cn我公司经营销售的红外椭圆偏振光谱一是当今国际上***种红外波段、单色仪光谱型的椭圆偏振光谱仪,它具有高准确度,高精度和比基于红外傅里叶光谱仪的椭
自动椭圆偏振测厚仪/椭圆偏振测厚仪/测厚仪 型号:TP-TPY-2 产品特点:仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。
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椭圆偏振测厚仪 椭圆偏振厚度分析仪 椭圆偏振厚度仪 型号:BXS10-SGC-I※ 测量范围 1nm-300nm※ 测量*小值 ≤1nm※ 入射角 30°- 90° 误差≤0.1°※ 偏振器方位角读数范围 0°- 180°※ 度盘刻度 每格2度
京都玉崎销售位差仪,椭圆偏振测量装置KOBRA-WPR,京都玉崎销售位差仪,椭圆偏振测量装置KOBRA-WPR由深圳市京都玉崎电子有限公司日本进口销售
KOBRA-WX 100 长样本的相位差测量装置 OSI株式会社■研究和光学功能膜的开发,质量控制■拉伸膜(三维折射率,表面取向)的取向评价■包装膜的热收缩,抗撕裂性的评价等■液晶单元,所述波长分散性的评价的扭曲角■光学元件的透射椭圆偏振光的评价,测量对象:西南区厂家直销 KOBRA-WX 100 长样本的相位差测量装置 OSI株式会社■延迟膜,Placel,偏光板■光盘■液晶盒■磁带基膜■收缩膜■其他通用膜应用:西南区厂家直销
YYZ-200型便携式热偶真空仪高温型干式恒温器 恒温干浴器 型号:SS-DH100-1 AZ8911/8912风量风速计 风速风量温湿度测试仪 椭圆偏振测厚仪 椭圆测厚仪 型号:SS-SGC-1A
除了能够进行高精度薄膜分析的分光椭圆偏振光谱仪之外,还可以通过安装测量角度的自功能齐全 重庆内藤销售 FE-5000 光谱椭偏仪 OTSUKA大塚電子动可变机构来支持各种薄膜。除了传统的旋转分析仪,方法之外,通过提供相位差板的自动功能齐全 重庆内藤销售 FE-5000 光谱椭偏仪 OTSUKA大塚電子回缩机构来提高测量精度。
SGC-2 自动椭圆偏振测厚仪参照比较仪器介绍: 椭圆偏振法测量的原理很早就已提出,相应的测试方法和设备也不断地被改进和**,使得椭圆偏振法成为重要的测试手段,并广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法*基本、*重要的应用之一 。