两箱式温度冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵,拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。两箱式温度冲击试验箱15907698721

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温度冲击试验箱 该产品适用于电子元气件的**性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产口的可靠性和进行产品的质量控制。 箱体结构 ■ 全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好

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温度冲击试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。

温度冲击试验箱采用蓄冷方式，为待测产品静置冷、热交替冲击方式.温度冲击试验箱广泛使用与电子零组件测试、半导体、金属、化工、建材等行业。

产...

温度冲击试验箱本系列高低温冲击试验箱适用于电工电子产品，电子零部件的冷热交替冲击试验。※适用标准，产品可满足CNS、MIL、IEC、JIS、GB/T2423.5-1995、GJB150.5-87等标准

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