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椭圆偏光膜厚仪FE-5000 日本SANKO山高 椭圆偏光膜厚仪FE-5000 日本SANKO山高

除了能够进行高精度薄膜分析的分光椭圆偏振光谱仪之外，还可以通过安装测量角度的自功能齐全 重庆内藤销售 FE-5000 光谱椭偏仪 OTSUKA大塚電子动可变机构来支持各种薄膜。除了传统的旋转分析仪,方法之外，通过提供相位差板的自动功能齐全 重庆内藤销售 FE-5000 光谱椭偏仪 OTSUKA大塚電子回缩机构来提高测量精度。

SGC-2 自动椭圆偏振测厚仪参照比较仪器介绍： 椭圆偏振法测量的原理很早就已提出，相应的测试方法和设备也不断地被改进和**，使得椭圆偏振法成为重要的测试手段，并广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法*基本、*重要的应用之一 。

视频光学接触角测定仪(Contact Angle Analizer) 相位接触线来获得 接触角参数。 接触角模块显示了Multiskop型多功能组合式椭偏仪测量能力的自然拓展。 它使用了Mutiskop许多现成的硬件，例如图像采集卡，CCD相机，样品平台，计 算机等。附着气泡的外形轮廓用杨氏-拉普拉斯方程进行分析拟和。 ,仪器简介：接触角能够提供表面组成的重要信息。附着在固体表面的液滴的形状取决 于液体表面张力和重力的平衡状态。表面力使液滴形状趋向于球形，而重力则 使之变得扁平。可以通过分析附着在固体表面的液滴的三个

仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器，功率稳定波长精度高。仪器采用USB接口与电脑连接，配套软件功能齐全，具有多样数据采集及处理方式，适用于不同用户的需要。

光谱椭偏仪 SpecEL-2000-VIS

椭圆偏振显微实时成像分析技术是在传统的消光（null）和离消光（off-null）椭圆偏振法基础上，结合数字处理技术发展出来的、旨在实时获取纳米尺度结构的表面或界面信息和纪录快速动力学过程的测量和,显示技术。 通过把椭圆偏振法与显微镜法相结合，椭偏光学成相系统保留了传统椭偏法对厚度测量具有高灵敏度的优点，并且具有测量面积大、取样速度快、横向分辨率高和结果直观等优点。其平面精度已经能够达到1μm，立体