TESA一维高度测量仪 Micro Hite 400/700 适合于如内外长度直径, 阶梯尺寸, 高度, 深度, 和距离的测量. TESA Hite Magna 400/700和被替代TESA, Hite 350/600 相比具有更大的测量范围，更高的精度，电子装置具有IP65的防护等级可以防止液体和灰尘的侵入，延长测高仪的使用寿命。控制面板固定在机身上。

手动型DHT测量高度仪系列：测高仪是基于精密机械、现代传感技术和电子技术的立式单轴坐标数字化几何测量仪器，广泛应用于精密机械、五金塑料等行业的精密测量。功能方面定位以一维尺寸测量功能为主，主要

TESA MICRO-HITE plusM电动2D测高仪测量功能更强大，操作更为直观和轻松，**性的旋转控制按钮将手动测量的速度和自动测量的精度**结合。基于其坚固的独特的设计，使得测高仪更适合,于车间和检测实验室。可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或距离尺寸测量。同时可以进行一维或二维的测量。

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* 采用新型、高精度、高分辨率**原点型线性编码器进行位置检测。* 便捷的图标键。* 可通过特有的处理方式 (跟踪测量检测圆的顶点) 进行内径／外径测量。*可选择多种类型的测头。* 带有背光照明的大型液晶显示三丰/158-高度尺/QM-Height/测高仪/2D测高仪

日本尼康NIKON MF1001系列高度计，测高仪选配特殊测针，可完成小深孔，盲孔测量，这是三坐标，影像仪，投影仪与显微镜无法代替的特点，特制测头还可测量螺帽孔深度。高度计/高度规还可完成高度尺，高度仪无法做到的精度。

可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或距离尺寸测量。同时可以进行一维或二维的测量。显示的分辨率为0.0005, 0.001, 0.01和0.1mm或转换为相等的英制

三丰测高仪518系列 中文名称：三丰测高仪英文名称：altimeter（mitutoyo）定义：用于测量空间点位相对地面高度的仪器。三丰测高仪是**的测高仪品牌，主要用途是测量工件的高度，另外还经常用于测量形状和��置公差尺寸，有时也用于划线。

TESA-HITE 400/700采用增量式光栅尺,具有tesa**技术在测量直径时自动寻找顶点.简单坚固的结构设计,时车间尺寸检测的理想测量设备电池供电.对于高度及阶梯尺寸/直径/中心距/槽宽等都能实现精密测量,具有杰出的性价比.

。TESA IG-13 数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差，并以ISO1101标准输出数据。在电子测高仪上20 年的制造经验造就了高品质的设计，代表了当今的技术水平的发展；生产现场检测的理,可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或距离尺寸测量。同时可以进行一维或二维的测量。自动搜索孔或轴的顶点，在动态探测中记录*大、*小值以及*大*小值之间的差值计算