液槽式冷热冲击试验箱： 主要适用于电子芯片IC、PCB、半导体陶磁材料及高分子材料之物理性变化试验。本试验箱是您*佳的选择。

XSB-IC 1）50次/秒的采样速度，基本误差±0.05%F.S，显示范围~19999~500002）配接测力传感器，...

冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力,及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

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蒸汽式老化试验机 该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验

AL经典系列普及型分析天平--操作简便、清晰的液晶显示，普及型天平体现出**的性价比。AL系列分析天平另有内校提高型分析天平为AL-IC系列