澳程高低温冷热冲击试验箱 QC-150
澳程高低温冷热冲击试验箱 QC-150

、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉及产品于热胀冷缩产生的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件

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IC元件红外线温度测量 2.5mm目标
IC元件红外线温度测量

便携IC元件红外线温度测量测量微小元件(如IC元件)测量范围:-55℃~+220℃(-67~428℉)操作环境温度:0 ~ +50℃ (32~122℉)测量距离18mm;量测点直径Size

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台湾ORDER计数器 LDC-511-5
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值,設定值,由IC**記憶,達10年之久,無電池之衰竭漏液之危險 高速動作 可計數至3000 CPS 計時暫停功能 由GATE端子禁止輸入計數 數位濾波器 25 CPS以下之有接點信號絕無彈跳現

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电动/气动研磨头 IC-300
电动/气动研磨头 IC-300

IC-300 电动/气动研磨头电动/气动研磨头

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蒸气老化试验箱 ZQ
蒸气老化试验箱 ZQ

蒸气老化试验箱 用途:该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。

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分析天平 AL204DU-IC AL104-IC
分析天平 AL204DU-IC AL104-IC

AL204DU-IC AL104-IC 梅特勒AL204DU-IC/AL104-IC经典系列提高型分析天平梅特勒AL104-IC经典系列提高型分析天平自动内校梅特勒AL204-IC经典系列提高型分析天平自动内校梅特勒AL204DU-IC经典系列提高型分析天平双量程自动内校

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数显恒速强力电动搅拌机 JB200-SH
数显恒速强力电动搅拌机 JB200-SH

数显恒速强力电动搅拌机JB200-SH (数显恒速强力型) 适用于生物、理化、化妆品、保健品、食品等液体/液体的混合、乳化,液体/固体粉末的分散、浆化实验领域。产品运行状态控制采用国外*先进IC速度

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 Autonics圆柱形接近开关 PRL18-8DN2
Autonics圆柱形接近开关 PRL18-8DN2

PRL18-8DN2 Autonics圆柱形接近开关 接近开关PR系列圆柱形接近开关PR系列,采用自主研发的专用IC,提高抗干扰性能 PRL18-8DN2 Autonics圆柱形接近开关

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XJ4822 XJ4822B CRT读出半导体管特性图示仪 参数价格 XJ4822 XJ4822B 说明书 参数 价格
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XJ4822 XJ4822B CRT读出半导体管特性图示仪 参数价格,集电极电流范围 (IC)10μA/div~1A/div 按1、2、5进制分16档二极管电流范围 (IR)0.2μA/div~5μA/div ;上海麦聚瑞电子为上海地区总代理,欢迎选购。

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时代THV-5S/THV-5手动(自动)转塔维氏硬度计 THV-5S/THV-5
时代THV-5S/THV-5手动(自动)转塔维氏硬度计 THV-5S/THV-5

的原始操作。 该操作采用高倍率光学测量系统,目镜鼓轮一次读数。可测定钢、有色金属、IC薄片、薄塑料、金属薄片、涂层、表面覆层、层压金属、热处理碳化层和淬火硬化层的深度与硬度梯度。

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