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- 产品名称：S4 TStar — TXRF光谱仪
- 产品型号：
- 产品展商：布鲁克
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简单介绍
数十年来，X射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb量级。TXRF 扩展ZXRF的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。因此，TXRF成为原子吸收光谱法(AAS)以及电感耦合等 离子体发射光谱法(ICP-OES)或质谱法(ICP-MS)的理想的替代性方法°现在，S4TStar在台式TXRF光谱仪的性能、自控和质量 方面开创了新的标准。
产品描述
检测活**物成分中的 催化元素： 液体或丸粒中的铅含量 小于0. 1~ 0. 5ppm
粮农组织和世卫组织的 食品**标准：可测试 大米，海产品，瓜果蔬 菜等里面的重金属含量 可达到10、40ppb
环境监测：
地表水，废水、污泥， 土壤，空气滤膜，核废 液中的污染物检出限可 达ppb量级
可分析血样，各种组织 中的微量元素，精度与 灵敏度相当于AAS或ICP 等分析技术
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元素范围
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Mo靶：铝到铀（Nb-Ru除外） W靶：钾到铀
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浓度
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ppb 到 100%
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检测限值
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Ni< 1 pg
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样品类型
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液体、悬浮液、粉末、颗粒物、金属、薄层、组织、晶片、 滤片等
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样品量
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液体和悬浮液，从1微升到50微升
颗粒物，直径100微米以下；粉末，10微克以下
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样品更换器
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自动样品更换器，10个托盘 自动托盘检测，用于鉴别样品类型
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容量
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样品托盘1： 30毫米盘片，*多90个盘片
样品托盘2：显微镜载玻片，*多30个载玻片
样品托盘3： 2英寸晶片，*多50个晶片
样品托盘4：矩形，小于54毫米，*多50个样品 样品托盘5：用户定义
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X射线管
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*高50W,金属陶瓷，*高50 Kv, 1mA,空气冷却
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X射线光学件
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多层膜单色仪
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激发模式
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Mo-K, 17.5 Kev
W■可致辐射，35 Kev； W-L, 8.4 Kev
Cu-K, 8.0 Kev
Cr-K, 5.4 Kev
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检测器
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珀尔帖冷却XFIash®硅漂移检测器
不需要液氮
探测器有效面积：60 mm2,选配：100 mn?
能量分辨率＜149ev （在1 OOKcps （锭Ka）,）
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接口
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通过TCP/IP进行数据交换（RJ45电缆）
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电源
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100/240 V, 50/60 HZ
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尺寸
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528mmx693mmx512mm （高x宽x深）
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重量
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80 Kg
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附件
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清洗盒，用于样品载体、存放盒
TXRF起动器套件（移液管、尖头、试管、研钵、药匙）
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