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- 产品名称:高温霍尔效应测试系统
- 产品型号:JH60E
- 产品展商:锦正茂仪器
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简单介绍
高温霍尔效应测试系统可测试材料:
半导体材料:SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和铁氧体材料等
低阻抗材料:石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR 材料等
高阻抗材料:半绝缘的 GaAs, GaN, CdTe 等
产品描述
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