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产品资料

Oxford CMI900膜厚测试仪

Oxford CMI900膜厚测试仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:Oxford CMI900膜厚测试仪
  • 产品型号:CMI900
  • 产品展商:Oxford
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
CMI900系列实时分析仪代表牛津仪器薄膜测厚仪和材料成分分析技术的一个重大飞跃。软件和硬件领域的新进展来增强我们的X线系列产品的性能。CMI900系列可以用来测量薄浸出液膜厚度(银、金、钯、锡等)和其他膜厚度。 区别材料和测量氮化钛涂层。CMI900系列分析器可以实时分析黄金和其他贵金属。印刷电路板和电子元件制造商和金属表面处理专业制造商也可以从我们的调查涂层厚度和组成的先进技术将受益
产品描述

配置规范描述

 

X射线发射系统在垂直根据类型(由上至下发射光源)X射线光学系统

 

空冷下降聚焦式X射线管,窗口

 

标准的目标材料:Rh目标;可选的目标材料:W、钼、银等

 

功率:50 w

 

配备**辐射光闸

 

二次x光滤波器:三位程控交换机,各种材料,不同厚度的选择

 

准直器单准直器

 

许多准直器自动交换系统,同时*6个人电脑

 

更多的准直器大小选项:圆形:0.1,0.15,0.2,0.3,0.5毫米和矩形:0.025 * 0.05、0.05 * 0.05、0.025 * 0.25、0.05 * 0.25、0.1 * 0.4等

 

样品间开槽样品室:深600毫米*宽度350毫米* 160毫米高

 

*大样本表大小610毫米* 610毫米

 

XYZ三轴控制方式多种控制模式选项:XYZ三轴程序控制,XY手动控制和Z轴程序控制,XYZ三轴手动控制

 

XY控制运动范围标准:152.4 * 177.8毫米,5种可选的

 

Z轴程控搬到一个高度的43.18毫米

 

样本观测系统高分辨率彩色CCD观测系统,标准放大30倍;50次,100次选项

 

激光自动对焦功能

 

变焦控制功能和固定焦距控制功能

 

计算机系统配置IBM电脑联想,惠普喷墨打印机

 

分析应用程序软件操作系统:视窗xp或Windows

 

分析软件包:智能链接FP包

 

测量厚度范围可衡量的厚度取决于您的应用程序

 

基本面分析函数使用基本参数法校正,牛津仪器根据您的应用程序将提供必要的标准样品

 

可检测元素范围:元素周期表上22元素~ 92元素,即Ti ~ U

 

还可以测量5层涂料,同时分析15种元素、共存元素修正

 

贵金属检测,如非盟卡拉评价

 

材料和合金元素分析

 

多达四个样本同时光谱显示和比较

 

元素谱定性分析

 

校正功能系统自动调整和修正功能,自动消除系统漂移

 

操作语言中国(众多,简化)、英语、日语、韩语、法语、德语、西班牙语、俄语

 
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