电子产品高低温冲击试验箱，电子高低温冲击试验箱

电子产品高低温冲击试验箱满足标准：

GB/T2423.1-2008试验A低温试验方法

GB/T2423.2-2008试验B高温试验方法

GB-T10592-2008高低温箱技术条件

GJB150.3-1986**设备环境试验方法：高温试验

GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求
产品用途 ：

电子产品高低温冲击试验箱，电子高低温冲击试验箱又名冷热冲击试验箱，用于电子产品、电器零组件、电子元器件、电阻、电容、电源、电脑、LED、LED显示器、电视、LED照明、LCD、LCD模组、LCD液晶屏、PCB、PCB电路板、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶制品、橡胶、国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质。高低温冲击试验箱是工厂品质部及新产品研发必备的可靠性试验设备。

电子产品高低温冲击试验箱产品型号及技术参数：


电子产品高低温冲击试验箱特点：

1.采用彩色中英文LCD触控式图控操作介面， 操作简易.

2.设备区分为高温区、低温区、测试区三部分， 各区之箱体釆独特之断热结构。

3.冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区， 做冷热冲击测试。

4.高温冲击或低温冲击时， *大时间可达9999分钟， *大循环周期可达9999次。

5.系统可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。

6.冷却采二元冷冻系统， 降温效果快速， 冷却方式为风冷式或水冷式两种。

7.可连接电脑， 记录仪仅为选购件。