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- 产品名称：美国GE超声波探头
- 产品型号：IAP-..25.2.0.5
- 产品展商：美国GE
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简单介绍
美国GE超声波探头IAP-..25.2.0.5通常：通过一个水延迟通道，以可能*好的测试结果复现性，美国GE超声波探头IAP-..25.2.0.5实现流水线或大批量生产零件的小缺陷和*小缺陷以及有缺陷材料组织的半自动和全自动测试。
产品描述
美国GE超声波探头IAP-..25.2.0.5
特性：非常高的分辨率，聚焦声束宽度非常小
A-..和IAP-..：用于由金属和非金属材料制成的零部件中*小缺陷的探测，有非常高的分辨率，这些缺陷在零部件表面下分布展开：例如半导体基体、电气插头和表面保护层中的材料分离、气孔和杂质等。同样地，它还可以应用于扩散焊接、电阻焊接和粘合焊接等的测试，以及由陶瓷、粉末金属、钛和其它合金制成的预制成型零部件的测试。
美国GE超声波探头IAP-..25.2.0.5
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压电高聚物高频直探头
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特性：非常高的分辨率，聚焦声束宽度非常小
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IAP-..25.2.0.5
IAP-..25.2.1
IAP-..25.3.1
IAP-..25.3.2
IAP-..50.2.0.3
IAP-..50.2.0.5
IAP-..50.2.1
IAP-..50.3.1
IAP-..50.3.2
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IA-..25.2
IA-..25.3
IA-..50.2
IA-..50.3
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