德国X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
FISCHERSCOPE ® X-RAY XDL ® 240
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用自动方
式，测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层
及大规模生产的零部件上的镀层。
德国X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
简介
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及
材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能全自
动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL 240 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有：
•
测量大规模生产的电镀部件
•
测量超薄镀层，例如：装饰铬
•
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
•
全自动测量，如测量印刷线路板
•
分析电镀溶液
XDL 240 有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。
由于采用了 FISCHER 完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样
品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用户界面友好的台式测量仪器。马达驱动的 X-
Y 工作台，当测量门打开时，工作台会自动移到放置样品的位置；马达驱动的 Z 轴系
统，可编程运行。
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精准定位测量位置。通过视频
窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测
量位置。
测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测
量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。
带有放大功能和十��线的集成视频显微镜简化了样品摆放，并且允许测量点的精准调
整。
所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能
强大而界面友好的 WinFTM ® 软件在电脑上完成。
XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器，型式许可完全符合
德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。
德国X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
通用
规格
设计用途
能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF)，
用于测定超薄镀层和溶液
分析。
元素范围
从元素 氯(17) 到 铀(92)
配有可选的 WinFTM® BASIC 软件时，*多可同时测定 24 种元素
设计理念
台式仪器，测量门向上开启
测量方向
由上往下
X 射线源
X 射线管 带铍窗口的钨管
高压
三档： 30 kV，40 kV，50 kV
孔径（准直器） Ø 0.3 mm 可选：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；长方形 0.3 mm x 0.05 mm
测量点尺寸
取决于测量距离及使用的准直器大小，
实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致
*小的测量点大小约 Ø 0.2mm
X 射线探测
X 射线接收器
测量距离
比例接收器
0 ~ 80 mm，使用砖利保护的 DCM 测量距离补偿法
样品定位
视频系统
高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置
手动聚焦，对被测位置进行监控
十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）
可调节亮度的LED照明，激光光点用于精准定位样品
放大倍数 40x – 160x
电气参数
电源要求 220 V ，50 Hz
功率
*大 120 W （不包括计算机）
保护等级 IP40
尺寸规格
外部尺寸
宽×深×高[mm]：570×760×650
内部测量室尺寸
宽×深×高[mm]：460×495x（参考“样品*大高度”部分的说明）
重量 120 kg
环境要求
使用时温度 10°C – 40°C
存储或运输时温度 0°C – 50°C
空气相对湿度
≤ 95 %，无结露
工作台
设计
马达驱动，可编程 X/Y 平台
255 x 235 mm
≤ 80 mm/s
≤ 0.01 mm 单向
300 x 350 mm
马达驱动，可编程运行
140 mm
5 kg，降低精度可达 20kg
140 mm
有
X/Y 平台*大移动范围
X/Y 平台移动速度
X/Y 平台移动重复精度
可用样品放置区域
Z 轴
Z 轴移动范围
样品*大重量
样品*大高度
激光（1 级）定位点
计算单元
计算机
带扩展卡的 Windows ® 计算机系统
软件
标准： WinFTM ® V.6 LIGHT
可选： WinFTM ® V.6 BASIC，PDM，SUPER
执行标准
CE 合格标准 EN 61010
型式许可
作为受完全保护的仪器
型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。
订货号
FISCHERSCOPE X-RAY XDL240 604-498
如有特殊要求，可与 FISCHER 磋商，定制特殊的 XDL 型号。
FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® 是 Helmut
Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen – Germany 的注册商标。
Windows ® 是 Microsoft
Corporation 在美国及其他地区的注册商标。
德国X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 德国X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 德国X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪