CSI原子力显微镜的详细介绍
多种工作模式
接触模式
轻敲模式
CAFM（导电AFM）
PFM（压电力）
MFM/EFM（磁力/静电力）
FMM（力调制）
HD-KFM（开尔文力）
ResiScope（扩散电阻）
STM
*佳的电特性测量模块
HD-KFM :
市场上*高的分辨率和灵敏度
更好的算法，更好的锁相灵敏度
易用使用，自动调用智能算法
ResiScope :
10个数量级测量范围——从100Ω~1TΩ之间（竞争者*多只覆盖了7个数量级）
较低的电流流经探针/样品（不会局部氧化，不会因为高电流损害探针/样品）
同时兼容AC模式成像和EFM/MFM 模式或者HD-KFM 模式，不用做任何变动而丢失样品的位置！
Soft-ResiScope :
仍然有10个数量级的测量范围，更适合软性样品成像和电阻/电流测量。
适用于多种环境的测量
温度控制：
*高可达200°
对于压电器件可以进行更稳定的加热分离（不漂移）
与大气控制、液体模式和所有电测量模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容
大气控制（气体和湿度）：
湿度控制不会损害光电探测器和激光器
光电探测器和激光器可以正常调节对齐
容易和快速设置
与所有电测量模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容
液体测量：
压电保护
激光容易对准（可以利用顶部CCD在空气中对准激光）
非常稳定的轻敲模式的使用
高品质的测量
平移式压电扫描器：
三轴独立
低噪音，具有原子级分辨率
*大100µm扫描，Z方向9µm
智能化AFM
低噪声低功耗相干激光器
低噪音控制器（低电压驱动压电扫描器）
24位DAC控制
大范围扫描，高分辨率，且无需更换扫描器。
易于使用
自动调谐集成锁相
自动设置的电子系统
顶部和侧面CCD视图
直观的软件和预先配置的AFM模式
主要的参数指标
1、XY扫描分辨率： 0.06nm
2、Z扫描分辨率： 0.006nm
3、扫描范围：XY向100um，Z向9um
4、超低噪音高压：典型值：＜0.01 mV RMS
5、数据采样点：高达4096
6、DAC输出：6个D/A转换器-24位
7、ADC输入：8个A/D转换器-16位
8、集成锁相：高达6MHz
9、控制器电源：AC 100~240 V,47~63 Hz
10、计算机接口：USB2.0/3.0
11、运行环境：运行于Windows XP/7/8/10操作系统
CSI原子力显微镜应用领域
金属，纳米材料，高分子聚合物，薄膜&涂层，DNA，蛋白质，半导体，光电材料，
太阳能电池，蓄电池，电化学领域，磁性材料，压电领域，分子电子或组织，导电材料表面表征…
CSI原子力显微镜应用实例
C36分子 扫描范围250nm DNA 扫描范围1µm
高分子聚合物 (PDES) 扫描范围12µm
石墨烯 扫描范围10µm
磁性三角形结构 扫描范围4.5µm
人造旋转冰 扫描范围6.5µm
PFM模式 PZT样品 扫描范围10µm
ResiScope模式 半导体掺杂剂表征 扫描范围4µm
HD-KFM模式 铝硅铜表面电位信号 扫描范围30µm
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