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产品资料

NanoCalc 薄膜反射测量系统

NanoCalc 薄膜反射测量系统
  • 如果您对该产品感兴趣的话，可以
  • 产品名称：NanoCalc 薄膜反射测量系统
  • 产品型号：NC-VIS
  • 产品展商：其它品牌
  • 产品文档：无相关文档
简单介绍
NanoCalc 薄膜反射测量系统，NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250µm的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚。 NanoCalc薄膜反射材料系统适合于在线膜厚和去除率测量，包括氧化层、中氮化硅薄膜、感光胶片及其它类型的薄膜。NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷、塑料等物质上的抗反射涂层、抗磨涂层等。
产品描述

NanoCalc 薄膜反射测量系统
 
薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250µm的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚。
 
产品特点
  • 可分析单层或多层薄膜
  • 分辨率达0.1nm
  • 适合于在线监测
操作理论
*常用的两种测量薄膜的特性的方法为光学反射和投射测量、椭圆光度法测量。NanoCalc利用反射原理进行膜厚测量。
查找n和k值
可以进行多达三层的薄膜测量，薄膜和基体测量可以是金属、电介质、无定形材料或硅晶等。NanoCalc软件包含了大多数材料的n和k值数据库，用户也可以自己添加和编辑。

应用
NanoCalc薄膜反射材料系统适合于在线膜厚和去除率测量，包括氧化层、中氮化硅薄膜、感光胶片及其它类型的薄膜。NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷、塑料等物质上的抗反射涂层、抗磨涂层等。
 
NanoCalc系统
NC-UV-VIS-NIR
重量：
250-1100 nm
厚度：
10 nm-70 m
光源：
氘卤灯
 
NC-UV-VIS
重量：
250-850 nm
厚度：
10 nm-20 m
光源：
氘卤灯
 
NC-VIS-NIR
重量：
400-1100 nm
厚度：
20nm-100µm (可选1µm-250µm)
光源：
卤灯
 
NC-VIS
重量：
400-850 nm
厚度：
50 nm-20μm
光源：
卤灯
 
NC-NIR
重量：
650-1100 nm
厚度：
70 nm-70μm
光源：
卤灯
 
NC-NIR-HR
重量：
650-1100nm
厚度：
70 nm-70μm
光源：
卤灯
 
NC-512-NIR
重量：
900-1700 nm
厚度：
50 nm-200μm
光源：
高亮度卤灯

NanoCalc规格
入射角：
90°
层数：
3层以下
需要进行参考值测量：
是
透明材料：
是
传输模式：
是
粗糙材料：
是
测量速度：
100ms - 1s
在线监测：
可以
公差（高度）：
参考值测量或准直(74-UV)
公差（角度）：
参考值测量
微黑子选项：
配显微镜
显示选项：
配显微镜
定位选项：
6"和12" XYZ 定位台
真空：
可以
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