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- 产品名称：光学薄膜厚度测量仪F37
- 产品型号：F37
- 产品展商：FILMETRICS
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简单介绍
用F37实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数（n和k值）和半导体以及电介质层的均匀性。 样品层： 可以测量平滑和半透明的，或者轻度吸收的薄膜。 这实际上包括那些使用在薄膜光伏产品内的任何半导体材料。
产品描述
产品简介：
用F37实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数（n和k值）和半导体以及电介质层的均匀性。
样品层：
可以测量平滑和半透明的，或者轻度吸收的薄膜。 这实际上包括那些使用在薄膜光伏产品内的任何半导体材料。
产品特性：
极大地提高生产率
快速—几秒钟完成测量
**—测量精度高于±1%
低成本—几个月就能回收其自身的成本
非侵入式—测试完全在沉积室以外进行
易于使用—直观的Windows™ 软件
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