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- 产品名称:LED 全光通量自动测试系统
- 产品型号:58173
- 产品展商:chroma(致茂)
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简单介绍
ChromaLED 全光通量自动测试系统 独特大面积之光侦测器
全新且独特之 LED 全光通量量测方式
高速自动化 LED wafer/chip 点测设备
搭载 6 吋 Wafer/chip 载台
提供全方位电性测试平台
产品描述
ChromaLED 全光通量自动测试系统
自动化 LED wafer/chip 点测设备
漏电流测试模块
电源量测单元
光学测试模块
ESD 测试模块 (选配)
Chroma 58173 是一组全新独特的量测 LED 全光通量之自动化测试系统。在LED的裸晶与晶粒测试生产线中,常见使用部份光通量来取代全光通量之量测方式 (见图1)。然而,传统的方式存在一些缺点,例如:准确度较低、讯噪比较低、测试时间较长等,以致于导入LED 的裸晶与晶粒生产线时会发生问题。
致茂研发出一种全新、高速且高**度之 LED 全光通量之量测方式(见图2)。 这种**的量测方式不仅比传统方式收集更多的 LED 部分光通量,也明显的改善提升了量测**度。
在光学量测方面,主波长、峰波长、色温等均可透过致茂独特的光学设计与组件取得**且稳定快速之数据;在机构方面,58173 搭载一个6吋的芯片载盘与校正基座,提供使用者一个完整的校正与测试平台;在电性测试方面,58173 则具备完整之电源量测单元,无论顺向电压、漏电流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性,均可于一次满足使用者的测试需求。
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