产品主要性能： 在功能测试的基础上 □ 测试器件的输入端注入电流。 □ 测试器件的输入端交叉漏电流。 □ 测试器件的输出端“三态”及“OC”门。 □ 测试器件的输出负载电流。 □ 测试器件的功耗电流。 □ 查找未知芯片型号。 □ 可以单次测试，也可以循环测试. □ 可自动识别74系列中的CMOS器件 （如：74C、74HC、74HCT等）。 当被测芯片被确认为74系列CMOS器件时，仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一 个“C”字（此时被测器件电源为TTL电源）。 本产品所提供的多值测试参数： □ 8种可选择的测试电源。 □ 根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。 □ 多种测试电压比较值。 □ 功耗测试。 以上参数的不同组合构成不同的测试模式，其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。 测试模式： 模式O： 全组合参数测试。 模式1-C：操作与模式O相同，但各有其不同的测试参数数值。 模式D： 任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。 模式E： 自检。内容包括计算机部分、显示、键盘及测试管脚电路。 模式F： 自编程测试。 测试范围及测试品种： □ 54 系列；4500 系列； □ RAM 256K bit □ 74 系列；40000 系列； □ EPROM 64K bit □ 4000 系列；C00 系列。 □ 光耦 目前市场上所见到的某些功能测试仪无法对IC器件进行直流参数测试和比较，因此会把 74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功能性 能特性完全不一致的器件混为一类。这种仪器实用价值很低，用仪器测试通过后，有时上 机却不能正常使用。本产品绝不会发生类似错误。 该产品*适合器件生产厂、整机生产厂作器件测试筛选之用，也适合科研、学校、部 队、IC经销商使用。它是科技工程技术人员开发新产品的得力工具。