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产品资料

元器件测量仪(L C R 变压器测试仪)半导体参数测试仪

元器件测量仪(L C R 变压器测试仪)半导体参数测试仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:元器件测量仪(L C R 变压器测试仪)半导体参数测试仪
  • 产品型号:3535
  • 产品展商:其他品牌
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
品牌: HIOKI日置
产地:
价格:询价
技术参数:3535LCR测试仪120MHz
产品描述
LCR测试仪 高速LCR仪,采样率可高至120MHz 100kHz~120MHz的宽频带 高速LCR测试(6ms/采样) 拆卸式前置放大器可选择 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
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